工具/软件：
你(们)好
目前、器件在-20°C 冷启动时解锁。
在功率仍导通的情况下、将其从25°C 冷却到-20°C 时、相位噪声不会下降、也不会出现问题。
在监控上拉的 CE 引脚时、有时会观察到该引脚在启动时降至 L。
当我读回寄存器值时、它们设置不正确
您认为这是有原因的吗？
我认为、即使 CE 引脚是输入、IC 也输出 L 是很奇怪的。
IC 中的双向 IO 是否发生故障？
案例1
案例2
感谢您的答复。 它非常有帮助。 我将更详细地解释这种情况。 在这里、我将按以下时间运行它。
设置在 Vcc3p3启动后100ms 开始运行、CE 有时会在该时间降至 L。
概率约为1/10。 这通常在-18℃ 和-16℃ 之间的温度下发生。 如果您能在-30℃ 和-10℃ 之间的温度下检查它、将会很有帮助。
在 LSI 内部、双向 IO 用于 CE 引脚的 IO 单元、尽管它通常设置为输入、但其行为就像设置为输出一样。 上电时、双向 IO 的控制是由 Tieh 和 TieL 单元决定、还是由某些逻辑电路控制？
尊敬的 Noel Fung：
感谢您的检查。 在一个样本中确认了缺陷。
■缺陷概述
・10个集合作为一个集合创建
・在低温启动测试期间、一组发生了解除锁定
・分析了一组检测电阻时、经确认在启动期间 CE 有时会降至 L
■发生缺陷的单元中的概率
・在-16℃ 的启动测试中发生解锁的概率： => 80%
・解锁发生时 CE 下降至 L 的概率： => 10%
在集合中发生解锁时、CE 不一定会下降到 L
■Ω 估计值
发生解锁时、CE 信号下降到 LSI 内部的 L、预计这有时会传播到 LSI 之外。 我认为、当用于 CE 引脚的 IO 单元是双向的并且其控制成为输出时、可能会观察到 CE 变为 LSI 之外的 L
■讨论要点
我想知道这是否可能作为 LSI
■问题
Q1：IO 单元是否用于 CE 引脚双向 IO？
问题2：在这种情况下、何时以及如何控制 IO 单元的输入/输出方向？ (例如、确定打开电源的时间)
■μ V 基准
尊敬的 Noel Fung：
感谢您提供非常有用的信息。 我将在下面回答。
■寄存器初始设置值
R39[13]=0、R30[4]= 1
■SPI 编程速度
12.5Mbps、CLK 上升时间3.3V/1ns
评估期间无法更改速度和 CLK 上升时间。
■寄存器读回值
・正常 R39[13]=0、R30[4]= 1
・当发生故障时、回读值不稳定、R39[13]=0、R30[4]= 0或1
在低温下使用有源探头监测 CLK 引脚时为・μ s、已观察到以下步骤。
■Ω 估计值
通常认为由于时钟线的反射而发生了阶跃、在寄存器中设置了不正确的值、并且 CE 降至 L
■总结
故障机制已被大致确定、因此此案例将被关闭。
非常感谢您的合作。
此致、
很棒的酒店
