Other Parts Discussed in Thread: LMX2595
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器件型号： LMX2595
您好、
根据计划要求、我们需要让 PN LMX2595 由第三方进行电气参数筛选。 该第三方进行了测试设置来准备、发现他们必须将 IIH 容差从+/- 25 uA 扩展到+/- 100 uA。 作为客户、 我们试图了解这样做的理由是否恰当。
从第三方测试机构获得：
LMX259R 不符合 TI 数据表中根据测试计划中商定的测试条件列出的 IIL 和 IIH 参数。 我们有很强的理论来解释为什么:
- 对于 IIL、除 MUXout 引脚外的一切均符合+–25uA IIL 限制。 我们必须从测试列表中拉出 MUXout 引脚。 MUXout 是一个多用途输出、上电时默认为工作状态、消耗电流。 这不是可进行漏电测试的情况、其中引脚预计处于高阻抗状态、我们只是想测量输出驱动器的漏电流、看看是否有连接到 GND 的路径。
- 对于 IIH、有源下拉机制将默认引脚设置为已知状态、这一状态在 TI 合成器中很常见。 我们在 IIH 测量中的许多引脚上都看到了这一点。 一个 100k 下拉电阻器在 3.45V 条件下消耗 34.5uA 的电流、这大于 25uA 的 IIH 规格。 50k 下拉将消耗 50uA 的电流。 我们看到了这一点、因此我们不得不提高限值。 其他引脚必须从列表中拉出、因为它们的有源电路会导致毫安级电流消耗。
电源状况：3.45V
I、O 和 I/O 引脚条件：PPMU 已连接
测试方法 (IIL)：强制在每个输入引脚上测量 0.0V 电流
测试方法 (IIH)：强制 VCC 测量每个输入引脚上的电流
这对于我们在此测试设置下将 IIH 容差扩大到+/- 100uA 是否有意义？
