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[参考译文] CDCLVP111-SP：测试

admin
Guru**** 2966500 points

Other Parts Discussed in Thread: CDCLVP111-SP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1660787/cdclvp111-sp-test

部件号： CDCLVP111-SP

测试

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    TI__Guru**** 2966500 points
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    很抱歉标题, 我在提交问题时遇到问题。

    DCDLVP111-SP 的传播延迟

    每摄氏度的延迟在此处进行了描述： CDCLVP111-SP：延迟 — 时钟和计时论坛-时钟和计时 — TI E2E 支持论坛

    典型值和最大值之间有很大的范围

    它与 PVT 的差值有多大？  

    例如、如果我校准了几个器件的延迟时间过热、我可以在生产设计中使用这些数据、还是需要校准每个器件？

    校准后、器件在预计寿命内或在 LEO 航天环境中 12 年内的稳定性如何？  

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    TI__Guru**** 2966500 points
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    您好：Mark、

    [报价 userid=“678208“ url=“~/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1660787/cdclvp111-sp-test/6403343

    典型值和最大值之间有很大的范围

    它与 PVT 的差值有多大？  

    [/报价]

    这是在 PVT 范围内进行的测试、因此您看到的范围反映了 PVT 范围内的变化。 您可以使用生产设计中几个零件的数据。

    校准后、器件在 LEO 航天环境中的预计使用寿命或 12 年寿命内的稳定性如何？  [/报价]

    这取决于您预测的连续结温。 假设温度为 105°C、器件应稳定约 40 年。 有关更多信息、请参阅数据表中的图 5-1。

    谢谢、

    Michael

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    TI__Guru**** 2966500 points
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    您好、Michael

    随着辐射暴露的增加、预计传播是否会增加？  

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    TI__Guru**** 2966500 points
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    您好：Mark、

    我必须由我们的封装团队回答这个问题。 我在上述 E2E 中提供了每摄氏度的 tpd 漂移，我认为这适用于相同的辐射情况 — 辐射理论上会增加器件的工作结温。 我对器件物理材料的了解有限、因此请咨询我们的专家。 我将在下周回复您。

    谢谢、

    Michael

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    TI__Guru**** 2966500 points
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    目标是  校准传播延迟随温度和时间的变化（任何老化效应和辐射效应）。 系统会跟踪温度和时间。

    您对此是否有任何测试数据、或者是否提供可行的建议？

    因为我们可以跟踪温度和时间、并在每个器件上进行测试（补偿工艺差异）。  其他因素会有多大的可变性？  

    我们无法跟踪电源轨的变化。 功率的微小变化（仍在规格范围内）是否会成为重要影响因素？

    我们可以辐照器件来反射日益增加的辐射暴露。 这会成为重要的贡献者吗？ 是不是真的?“

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    TI__Guru**** 2966500 points
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    您好：Mark、

    很抱歉耽误你的时间。 我获得了以下成果：

    从 0 至 20krad 的传播延迟降低、而从 20 至 100 krad 的传播延迟增加

    此测试使用 LDR 完成、LDR 以 非常低的速率提供增量辐射、这将模拟 GEO 的最佳客户用途。 这些结果可以在产品页面上 CDCLVP111-SP 的 TID 报告中看到。

    谢谢、

    Michael