你好!
我们已经对评估板进行了一组测试、尤其是为了查看杂散水平。 我们注意到位于 Fout%Fosc 的主信号周围存在杂散。 使用寄存器 R1控制 CAL_clk_div 参数、我们已经看到、如果我们将状态机时钟除以2或4、则可以降低这些信号的电平。
由于我们仅使用完全辅助模式,我们想知道是否有方法禁用状态机时钟,因为我们不使用 VCO 校准? 或者您可能知道进一步减少 Fout%Fosc 杂散的方法吗?
提前感谢
Stephane
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我们已经对评估板进行了一组测试、尤其是为了查看杂散水平。 我们注意到位于 Fout%Fosc 的主信号周围存在杂散。 使用寄存器 R1控制 CAL_clk_div 参数、我们已经看到、如果我们将状态机时钟除以2或4、则可以降低这些信号的电平。
由于我们仅使用完全辅助模式,我们想知道是否有方法禁用状态机时钟,因为我们不使用 VCO 校准? 或者您可能知道进一步减少 Fout%Fosc 杂散的方法吗?
提前感谢
Stephane
你好!
我已经完成了一些禁用状态机时钟的测试。 这真的很好、由于机器时钟而产生的杂散并不微不足道(其中一些时钟超过10 dB)。 我想现在将状态机时钟保持禁用状态、但我想确保配置不会出错、因此:
你知道在这种情况下是否有不利影响吗? 我在全辅助模式下使用 PLL 以获得尽可能最佳的锁定时间、恐怕在接下来的几周里会有坏消息迫使我让状态机时钟运行。 因此、如果您知道使用该配置时出现了一些故障、那么很高兴知道这一点。
主题的变化、对我来说、当我们讨论 PLL 时、3个参数很重要:
--相位噪声
--伪波
--锁定时间
如果我错了,请告诉我,但校准算法的目的似乎是优化相位噪声(对吧?)。 但是、这一点可以在牺牲其他两个参数的情况下实现。 在我的 µs 过程中、我看到锁定时间测量值的75%小于30 μ s。 µs、其中一些器件的使用寿命可能超过150 μ s。 这些测试是在完全辅助模式下使用来自无辅助模式(VCO_SEL、CAPCTRL 和 DACISET)的校准数据完成的。 我还看到、使用校准数据、一些频率配置为我提供了一个充满不良杂散的频谱、但是、改变 VCO_SEL、CAPCTRL 和 DACISET 的值给了我更好的频谱和更好的锁定时间。 我的问题是:
--您是否有具体的方法来获得:
----锁定时间好吗?
-----频谱良好?
这两个都是?
提前感谢您
Stephane