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器件型号:LMX2592 你(们)好
我使用 LMX2592EVM 来检查相位噪声性能。 使用默认的板载晶体振荡器、我测量了相位噪声性能、这非常好。 现在、当我通过绕过板载时钟将外部时钟连接到 EVM (通过切换 R14p 和 R14)时、测量任何输出频率下的相位噪声性能、我在100Hz 至10kHz 频带中看到大量杂散(使用板载晶体时不存在)。 我还会在将外部时钟作为输入之前检查其相位噪声性能、这非常好。 我不确定这些杂散是如何显示的、当它们与板载晶体不存在时。 我是否可以知道如何消除这些杂散、或者至少是它们在 EVM 上发生的原因? 即使使用 良好的信号源(优于指定的-135dBc/Hz @ 10kHz 偏移)
所附为相位噪声性能曲线。 黄色1表示作为输入提供的100MHz 外部时钟、红色1表示在3.9GHz 时使用外部时钟进行测量。此致
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