请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
我们在寿命测试期间观察 TDM 数据(Jacinto 6 <=>电源 IC)漂移问题(器件始终开启且具有环境变量)。
现在、这对我们来说是一个障碍、因为我们将启动 DV2测试、并且该测试需要很长的准备时间(65天)、我们必须找到根本原因并在 DV2测试之前修复它。
我们 有14个通道、因此使用2个 TDM8、而在 TDM_data2中使用6个插槽。 (8+6)
我们观察到的是：
在 TDM_data2中，数据时隙将漂移 (xxxx xxoo => oxxx xxxo)，下图显示了时隙漂移1的情况：
我们不确定 TDM_data1是否具有8个插槽(完整)的行为。
正常波形：
异常波形：
更多信息：
(TQE、CH1/CH3/CH11/CH12/CH14的测试条件/AMP 故障说明全部位于 TDM_data2上)
