工具/软件：Code Composer Studio
大家好，
我在2.8377万s上工作，我是根据lanchpad-2.8377万S设计的。
我使用CCS 7和XDS100V2。
当我测试连接时，CCS显示此按摩：
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[开始：德州仪器(TI) XDS100v2 USB调试探头_0]
执行以下命令：
%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile -RV -o -f inform，logfile=yes -S pathlength -S完整性
[结果]
——— [打印主板配置路径名]------------------
C：\Users\Anisa\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\1\0\BrdDat testBoard.dat
——— [打印reset-command软件日志文件]------------------
该实用程序选择了100或510类产品。
该实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库的构建日期为'EC 92016'。
库的构建时间是'13:48:53'。
库软件包版本为6.0 ．504.1。
库组件版本为35.35 ．0.0。
控制器不使用可编程FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x0.0004万)。
控制器的插入长度为'0'(0x0万000000)。0万。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
——— [打印reset-command hardware log-file (重置命令硬件日志文件)]------------------
扫描路径将通过切换JTAG TRST信号重置。
控制器是FTDI FT2232，带USB接口。
从控制器到目标的链路是直接链路(不带电缆)。
该软件配置为支持FTDI FT2232功能。
控制器无法监控EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控EMU[1]针脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的正时。
控制器无法控制输入引脚上的正时。
扫描路径链路延迟已完全设置为'0'(0x0000)。
——— [从PLL生成的JTAG TCLK输出的日志文件]-------
没有用于对JTAG TCLK频率进行编程的硬件。
——— [测量最终JTAG TCLKR输入的源和频率]-------
没有用于测量JTAG TCLK频率的硬件。
——— [在JTAG IR和DR上执行标准路径长度测试]-----------
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR指令路径长度测试成功。
JTAG IR指令路径长度为6位。
JTAG DR旁路路径长度测试成功。
JTAG DR旁路路径长度为1位。
——— [对JTAG IR执行完整性扫描测试]---------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF执行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x0万执行测试。
扫描测试：2，跳过：0，失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：0
使用0x01FC1F1D执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：0
使用0x5533CCAA执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：0
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：0
已正确扫描所有值。
JTAG IR完整性扫描测试已成功。
——— [在JTAG DR上执行完整性扫描测试]------------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF执行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x0万执行测试。
扫描测试：2，跳过：0，失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：0
使用0x01FC1F1D执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：0
使用0x5533CCAA执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：0
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：0
已正确扫描所有值。
JTAG DR完整性扫描测试已成功。
[结束：Texas Instruments XDS100v2 USB调试探头_0]
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但当我转至调试时，CCS显示以下错误：
请帮帮我。
谢谢你。
