[参考译文] TMS320F2.8075万：无法连接CCS V7

你好

这有助于调试： processors.wiki.ti.com/.../Debugging_JTAG_Connectivity_Problems

此致
Chris

您好，Gautam：

感谢您的回复。 我还有一张已编程的卡。 我也尝试过XDS100v1，但收到相同的错误。

Regrds，
Sagar Yadav

您好，

我已检查测试连接是否相同。
我收到以下错误。

[开始：德州仪器(TI) XDS100v2 USB调试探头]

执行以下命令：

%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile -RV -o -f inform，logfile=yes -S pathlength -S完整性

[结果]


——— [打印主板配置路径名]------------------

C：\Users\Sagar\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\0\0\BrdDat testBoard.dat

——— [打印reset-command软件日志文件]------------------

该实用程序选择了100或510类产品。
该实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库的构建日期为'EC 112017'。
库的构建时间是'12:04:14'。
库软件包版本为7.0 ．100.1。
库组件版本为35.35 ．0.0。
控制器不使用可编程FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x0.0004万)。
控制器的插入长度为'0'(0x0万000000)。0万。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

——— [打印reset-command hardware log-file (重置命令硬件日志文件)]------------------

扫描路径将通过切换JTAG TRST信号重置。
控制器是FTDI FT2232，带USB接口。
从控制器到目标的链路是直接链路(不带电缆)。
该软件配置为支持FTDI FT2232功能。
控制器无法监控EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控EMU[1]针脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的正时。
控制器无法控制输入引脚上的正时。
扫描路径链路延迟已完全设置为'0'(0x0000)。

——— [从PLL生成的JTAG TCLK输出的日志文件]-------

没有用于对JTAG TCLK频率进行编程的硬件。

——— [测量最终JTAG TCLKR输入的源和频率]-------

没有用于测量JTAG TCLK频率的硬件。

——— [在JTAG IR和DR上执行标准路径长度测试]-----------

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR指令路径长度测试失败。
JTAG IR指令扫描路径为卡在一个位置。

JTAG DR旁路路径长度测试失败。
JTAG DR旁路扫描路径为卡在一个位置。

——— [对JTAG IR执行完整性扫描测试]---------------

此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF执行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x0万执行测试。
测试2字0：扫描0x0万并在0xFFFFFFFF中扫描。
测试2字1：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2字6：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2 Word 7：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
实用程序现在只报告失败测试的计数。
扫描测试：2，跳过：0，失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：2
使用0x01FC1F1D执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：3
使用0x5533CCAA执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：4
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：5
某些值已损坏- 83.3 Percent (默认值百分比)。

JTAG IR完整性扫描测试失败。

——— [在JTAG DR上执行完整性扫描测试]------------------

此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF执行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x0万执行测试。
测试2字0：扫描0x0万并在0xFFFFFFFF中扫描。
测试2字1：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2字6：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2 Word 7：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
实用程序现在只报告失败测试的计数。
扫描测试：2，跳过：0，失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：2
使用0x01FC1F1D执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：3
使用0x5533CCAA执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：4
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：5
某些值已损坏- 83.3 Percent (默认值百分比)。

JTAG DR完整性扫描测试失败。

[结束：Texas Instruments XDS100v2 USB调试探头]


您能否告诉我问题是什么，或者我应该检查什么才能解决问题？

此致，
Sagar

Sagar

您是否参考过C2000Ware中的2.8075万 controlCARD信息表？ 确保验证插卡开关是否处于正确位置。
此外，有关调试项目，请参阅wiki。 问题不能仅仅通过扫描测试来确定。

此致
Chris

您好，

您是否参考 过C2000Ware中的2.8075万 controlCARD信息表？  

是的，我参考了2.8075万控制卡表。

我还有一个控制卡，两个卡的开关设置相同。

此致，

Sagar

Sagar

好的，这很好。 除了我针对调试操作发布的Wiki之外，我还必须移动您的帖子以获得进一步的JTAG帮助。

此致
Chris