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工具/软件:Code Composer Studio
您好!
我正在使用定制设计 XDS100v2 (TI 参考设计)。同时、我将连接目标板、我将收到以下消息:
c55xx:GEL:执行 OnReset (0)时出错:地址0x80D 处的内存验证失败
在 GEL_MemoryFill (0x80D、2、1、0x4748)[C5502.GEL:202]
在 Init_ce0_SDRAM_5502CPUBoard ()[C5502.GEL:66]
OnReset (0)时
C55xx:GEL 输出:C5502_Init 完成。
c55xx:GEL:执行 OnTargetConnect()时出错:地址0x80D 处的内存验证失败
在 GEL_MemoryFill (0x80D、2、1、0x4748)[C5502.GEL:202]
在 Init_ce0_SDRAM_5502CPUBoard ()[C5502.GEL:60]
在 OnTargetConnect()
任何人都可以在原探上方找到矫正的解决方案。
提前感谢
您好!
存在一个常见错误、并在以下文章中详细记录:
http://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/troubleshooting-data_verification_errors.html
基本上、内存填充会在向0x80D (EMIF_SDCNT2)写入正确的值时出现问题。 您提到您正在使用定制的 XDS100v2。 您是否尝试将其与标准(非定制) XDS100v2结合使用、是否仍会发生错误?
谢谢
Ki
您好,
昨天我的 XDS100v2板已连接,在测试连接时收到消息
[开始:德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]
执行以下命令:
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C:\Users\YEPL\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\1\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"ar 13 2019"。
库构建时间为'21:35:20'。
库软件包版本为'8.1.0.00005'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为38位。
JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为1位。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:0
所有值均已正确扫描。
JTAG IR 完整性扫描测试成功。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:0
所有值均已正确扫描。
JTAG DR 完整性扫描测试成功。
[结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]
今天我连接同一个板,在测试连接时收到消息
[开始:德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]
执行以下命令:
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C:\Users\YEPL\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\1\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"ar 13 2019"。
库构建时间为'21:35:20'。
库软件包版本为'8.1.0.00005'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在零。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:1、跳过:0、失败:1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
测试1字0:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字1:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字2:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字3:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字4:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字5:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字6:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
测试1字7:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:1、跳过:0、失败:1
使用0x00000000执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]
有人知道这个问题吗?
硬件或任何其他设置中出现问题?
我的电路板定制设计 TI 参考设计(随附)...
(我没有非定制的 XDS100V2仿真器)e2e.ti.com/.../xds100v2schematic.pdf
[引用 user="Muneeswaran manokaran"]
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在零。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。
[/报价]
[引用 user="Muneeswaran manokaran"]
有人知道这个问题吗?
硬件或任何其他设置中出现问题?
[/报价]
这通常是硬件连接问题。 请参阅: