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[参考译文] CCS/TMS320VC5502:XDS100V2

Guru**** 2191325 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/tools/code-composer-studio-group/ccs/f/code-composer-studio-forum/787023/ccs-tms320vc5502-xds100v2

器件型号:TMS320VC5502

工具/软件:Code Composer Studio

您好!

我正在使用定制设计 XDS100v2 (TI 参考设计)。同时、我将连接目标板、我将收到以下消息:

c55xx:GEL:执行 OnReset (0)时出错:地址0x80D 处的内存验证失败

      在 GEL_MemoryFill (0x80D、2、1、0x4748)[C5502.GEL:202]

      在 Init_ce0_SDRAM_5502CPUBoard ()[C5502.GEL:66]

      OnReset (0)时

C55xx:GEL 输出:C5502_Init 完成。

c55xx:GEL:执行 OnTargetConnect()时出错:地址0x80D 处的内存验证失败

      在 GEL_MemoryFill (0x80D、2、1、0x4748)[C5502.GEL:202]

      在 Init_ce0_SDRAM_5502CPUBoard ()[C5502.GEL:60]

      在 OnTargetConnect()

任何人都可以在原探上方找到矫正的解决方案。

提前感谢

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    您好!

    存在一个常见错误、并在以下文章中详细记录:

    http://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/troubleshooting-data_verification_errors.html

    基本上、内存填充会在向0x80D (EMIF_SDCNT2)写入正确的值时出现问题。 您提到您正在使用定制的 XDS100v2。 您是否尝试将其与标准(非定制) XDS100v2结合使用、是否仍会发生错误?

    谢谢

    Ki

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    您好,

    昨天我的 XDS100v2板已连接,在测试连接时收到消息

    [开始:德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

    执行以下命令:

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

    [结果]

    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    C:\Users\YEPL\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\

      TI\1\0\BrdDat\testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择100或510类产品。

    此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。

    库构建日期为"ar 13 2019"。

    库构建时间为'21:35:20'。

    库软件包版本为'8.1.0.00005'。

    库组件版本为'35.0.0'。

    控制器不使用可编程 FPGA。

    控制器的版本号为'4'(0x00000004)。

    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。

    此实用程序将尝试重置控制器。

    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。

    控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。

    从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。

    该软件配置为 FTDI FT2232功能。

    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。

    控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。

    控制器无法控制输出引脚上的时序。

    控制器无法控制输入引脚上的时序。

    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

    ---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

    没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

    ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

    ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试成功。

    JTAG IR 指令路径长度为38位。

    JTAG DR 旁路路径长度测试成功。

    JTAG DR 旁路路径长度为1位。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。

    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。

    扫描测试:1、跳过:0、失败:0

    使用0x00000000执行测试。

    扫描测试:2、跳过:0、失败:0

    使用0xFE03E0E2执行测试。

    扫描测试:3、跳过:0、失败:0

    使用0x01FC1F1D 进行测试。

    扫描测试:4、跳过:0、失败:0

    使用0x5533CCAA 进行测试。

    扫描测试:5、跳过:0、失败:0

    使用0xAACC3355进行测试。

    扫描测试:6、跳过:0、失败:0

    所有值均已正确扫描。

    JTAG IR 完整性扫描测试成功。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。

    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。

    扫描测试:1、跳过:0、失败:0

    使用0x00000000执行测试。

    扫描测试:2、跳过:0、失败:0

    使用0xFE03E0E2执行测试。

    扫描测试:3、跳过:0、失败:0

    使用0x01FC1F1D 进行测试。

    扫描测试:4、跳过:0、失败:0

    使用0x5533CCAA 进行测试。

    扫描测试:5、跳过:0、失败:0

    使用0xAACC3355进行测试。

    扫描测试:6、跳过:0、失败:0

    所有值均已正确扫描。

    JTAG DR 完整性扫描测试成功。

    [结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

    今天我连接同一个板,在测试连接时收到消息

    [开始:德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

    执行以下命令:

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

    [结果]

    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    C:\Users\YEPL\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\

      TI\1\0\BrdDat\testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择100或510类产品。

    此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。

    库构建日期为"ar 13 2019"。

    库构建时间为'21:35:20'。

    库软件包版本为'8.1.0.00005'。

    库组件版本为'35.0.0'。

    控制器不使用可编程 FPGA。

    控制器的版本号为'4'(0x00000004)。

    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。

    此实用程序将尝试重置控制器。

    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。

    控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。

    从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。

    该软件配置为 FTDI FT2232功能。

    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。

    控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。

    控制器无法控制输出引脚上的时序。

    控制器无法控制输入引脚上的时序。

    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

    ---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

    没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

    ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

    ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试失败。

    JTAG IR 指令扫描路径卡在零。

    JTAG DR 旁路路径长度测试失败。

    JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。

    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。

    测试1字0:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字1:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字2:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字3:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字4:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字5:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字6:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字7:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    已提供前8个错误的详细信息。

    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。

    扫描测试:1、跳过:0、失败:1

    使用0x00000000执行测试。

    扫描测试:2、跳过:0、失败:1

    使用0xFE03E0E2执行测试。

    扫描测试:3、跳过:0、失败:2

    使用0x01FC1F1D 进行测试。

    扫描测试:4、跳过:0、失败:3

    使用0x5533CCAA 进行测试。

    扫描测试:5、跳过:0、失败:4

    使用0xAACC3355进行测试。

    扫描测试:6、跳过:0、失败:5

    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG IR 完整性扫描测试失败。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。

    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。

    测试1字0:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字1:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字2:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字3:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字4:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字5:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字6:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    测试1字7:扫描出0xFFFFFFFF 并在0x00000000中扫描。

    已提供前8个错误的详细信息。

    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。

    扫描测试:1、跳过:0、失败:1

    使用0x00000000执行测试。

    扫描测试:2、跳过:0、失败:1

    使用0xFE03E0E2执行测试。

    扫描测试:3、跳过:0、失败:2

    使用0x01FC1F1D 进行测试。

    扫描测试:4、跳过:0、失败:3

    使用0x5533CCAA 进行测试。

    扫描测试:5、跳过:0、失败:4

    使用0xAACC3355进行测试。

    扫描测试:6、跳过:0、失败:5

    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG DR 完整性扫描测试失败。

    [结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

    有人知道这个问题吗?

    硬件或任何其他设置中出现问题?

    我的电路板定制设计 TI 参考设计(随附)...

    (我没有非定制的 XDS100V2仿真器)e2e.ti.com/.../xds100v2schematic.pdf

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    [引用 user="Muneeswaran manokaran"]

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试失败。

    JTAG IR 指令扫描路径卡在零。

    JTAG DR 旁路路径长度测试失败。

    JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。

    [/报价]

    [引用 user="Muneeswaran manokaran"]

    有人知道这个问题吗?

    硬件或任何其他设置中出现问题?

    [/报价]

    这通常是硬件连接问题。 请参阅:

    http://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/ccsv7_debugging_jtag_connectivity_issues.html#invalid-data-read-back

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    您好!
    谢谢。 问题出在我的硬件设置到目标板。(接地不匹配)。 但在调试时、我遇到了上述错误(首次发布)。
    c55xx:GEL:执行 OnReset (0)时出错:地址0x80D 处的内存验证失败

    在 GEL_MemoryFill (0x80D、2、1、0x4748)[C5502.GEL:202]

    在 Init_ce0_SDRAM_5502CPUBoard ()[C5502.GEL:66]

    OnReset (0)时

    C55xx:GEL 输出:C5502_Init 完成。

    c55xx:GEL:执行 OnTargetConnect()时出错:地址0x80D 处的内存验证失败

    在 GEL_MemoryFill (0x80D、2、1、0x4748)[C5502.GEL:202]

    在 Init_ce0_SDRAM_5502CPUBoard ()[C5502.GEL:60]

    在 OnTargetConnect()

    此外、在使用目标板进行调试时、Code Composer Studio V8处于挂起状态。

    我使用的是 Windows 10 -64位(CCS V8)。
    有什么建议吗?
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    您好!

    现在使用 CCS v5.1。 在调试过程中、我遇到了错误

    C55xx:GEL 输出:C5502_Init 完成。
    C55xx:加载程序:程序的一个或多个部分属于不可写的存储器区域。 这些区域实际上不会写入目标。 检查链接器配置和/或存储器映射。
    C55xx:文件加载程序:地址0x00FFFF00处的数据验证失败、请验证目标存储器和存储器映射。
    c55xx:GEL:文件:C:\Users\YEPL\workspace_v5_1\samples\Debug\sample.out:发生数据验证错误、文件加载失败。

    有什么解决方案?
    谢谢
    Muneeswaran Manokaran
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    数据验证错误是一种常见错误、有许多潜在的根本原因。 请仔细阅读以下文章、了解有关错误、潜在根本原因以及解决方法建议的更多详细信息:
    software-dl.ti.com/.../ccs_troubleshooting.html

    谢谢
    Ki
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    您好!
    在 GEL 文件更改后解决了问题。
    谢谢大家。。。