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[参考译文] ADC12DJ2700:单通道模式下 ADC-A 和 ADC-B 之间的增益调整

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC12DJ2700, LMH3401, ADC12DJ5200RF
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1491551/adc12dj2700-gain-trimming-between-adc-a-and-adc-b-in-single-channel-mode

器件型号:ADC12DJ2700
主题中讨论的其他器件: LMH3401ADC12DJ5200RF

工具与软件:

大家好!

我们在单通道交错模式的直流耦合应用中使用 ADC12DJ2700。

我们将使用具有 ADC-A 和 ADC-B 内核的前台校准模式。 未使用 ADC-C。 采样输入为 INA。

通常、在执行前台校准后再执行失调电压校准后、器件将按预期工作。

作为我们应用的一部分、连接到 INA 的信号源可能会在 ADC 本身的一个全范围电压附近(但仍在有效范围内)施加一个直流失调电压。

此时输入电压下、我们可以观察到 ADC-A 和 ADC-B 生成的"基线"之间分别存在~1-3LSB 的差异。 与执行偏移校准的工作点相比、这会导致交错式数据流的标准偏差更大。

我怀疑这可能是由 ADC-A 和 ADC-B 的轻微不同增益传递函数引起的

实际问题是:

数据表 SLVSEH9A 在表44中的"INA 和 INB 增益"部分的注释中提到了特定于内核的增益调整选项(名为 GAIN_B0和 GAIN_B1以及 GAIN_B4和 GAIN_B5)、但没有有关所述 GAIN_Bx 字段的进一步说明或寄存器位详细信息。

是否存在这些字段? 是否完全可以进行核心特定增益调整?

此致、

Thorsten

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    Thorsten、您好!

    我正在为您查看该设计。 请给我几天的时间来回应。

    此致、

    Rob

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    Thorsten、您好!

    测量1-3LSB 差值时、是否应用了模拟输入频率? 还是只是查看具有未连接模拟输入的代码?

    另外、在测量此失调电压时、直流耦合放大器是否仍保持连接?

    请告诉我。

    谢谢!

    Rob

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    Rob、您好!

    我们将在未施加任何频率的情况下测量输入。 INA 由始终处于启用状态的 LMH3401 (SE-Diff 转换)驱动。 LMH FDA 的 SE 输入桥臂通过50R 端接至 GND。 LMH 的另一个桥臂接收 DAC 电压、用于应用特定的失调电压调整。

    在初始前台和偏移校准之后、我们可以在 ADC 中标度值2048附近获得大约2.5LSB (这对于应用非常合适)标准偏差。

    移动基线后、每个 ADC-x 内核(将生成的数据流拆分为两个交替缓冲器)仍在~2.5LSB 标准偏差转换输入。 但每个内核的"中心"值在1-3LSB 左右"有差异"。

    谢谢!

    Thorsten

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    Thorsten、您好!

    很抱歉、但我不理解您在这里的评论:移动基线后、每个 ADC-x 内核(将生成的数据流拆分成两个交替缓冲器)仍在以~2.5LSB 标准偏差转换输入。 但每个内核的"中心"值在1-3LSB 左右"有差异"。

    此外、我从设计中验证数据表中提到的电阻器存在错误。 没有用于更改或修改此 ADC 的增益和偏移的寄存器。 很抱歉混淆了。 我们正在更正数据表以删除该部分。

    此致、

    Rob

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    尊敬的 Rob:

    在每个场景中、我们都以5GSps 的速率采集50万个样本。 此外、我们将同一迹线分成两个250k 采样缓冲器、如下所示:

    缓冲区1:样本0、2、4、6等

    缓冲区2:样本1、3、5、7等。

    我们的假设:然后、缓冲器1和2各自保存由每个有源 ADC 内核转换的样本。

    然后、我们对原始缓冲区和两个分离缓冲区进行组织组合、以获取每个缓冲区的平均偏差和标准偏差值。

    设置:

    我们将通过 LMH3401 FDA 向 ADC 馈入直流电压(通过上述 offet DAC)。

    场景1:0V

    我们让 ADC 执行偏移校准、然后采用50万个样本迹线(左上角)。

    组合缓冲器(左上):平均值:2050、标准偏差:~2.5 (顶部中间)

    缓冲区1和缓冲区2 (两个迹线都叠加了红色/蓝色、爬虫程序左侧):与组合缓冲区相同(爬虫程序中间、爬虫程序右侧)。

    场景2:200mV (转换后的 ADC 值为~100)

    我们不会重新运行任何校准、然后采用50万个样本的迹线。

    组合缓冲:平均值:100,标准偏差:>3.

    缓冲区1:平均98、标准偏差:~2.5

    缓冲区2:平均102、标准偏差:~2.5

    我们还可以在输入范围的另一端附近观察到这种行为、只是缓冲器1和2之间的方向发生了翻转。

    我希望这有道理。

    根据我的理解、无法调整每个 ADC 内核的增益。 这应该是关于我们在这里看到的内容的解释。

    谢谢!

    Thorsten

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    Thorsten、您好!

    感谢您提供的所有信息。 我明白你在做什么了。 请记住、随着模拟输入频率从直流变化、由于两个 ADC 之间的 BW 不匹配、校准可能也无法保持。

    您的应用是否很重要。 我建议使用 ADC12DJ5200RF、它可以在这个较低的采样率下正常工作、并且会公开增益和偏移寄存器以进行进一步的实验。 这是指向数据表的链接。

    www.ti.com/.../adc12dj5200rf.pdf

    此致、

    Rob

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    尊敬的 Rob:

    好的、感谢您的深入了解。 因为硬件设计工作已经完成、我们必须了解如何在应用中使用此功能。 我会看一下推荐的 ADC。

    谢谢!

    Thorsten

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    Thorsten、您好!

    我懂了。 似乎您需要就电源变化和温度范围提供查找表。 这是"消除"所有满量程和所用频率范围内的误差的最佳方法。

    这是一种很常见的方法、除非您使用 FPGA 中的获得许可的 IP/算法主动进行这些调整。

    此致、

    Rob