工具/软件:
您好:
我对 ADC 器件的使用有一些技术问题:
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数据表中提到的误差值(例如 INL、DNL 和失调电压)是否使用内部或外部电压基准进行表征?
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使用时的预期 ENOB 是什么:
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内部基准、和
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外部2.5V±0.05%基准?
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如果我不打算使用 DAC 功能、可以将 AVcc 引脚悬空、还是需要与特定电位相连?
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该器件包括两个远程温度检测通道。 是否可以将它们用作通用差分 ADC 输入? 此外、它们是否可用于连接热电偶?
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工具/软件:
您好:
我对 ADC 器件的使用有一些技术问题:
数据表中提到的误差值(例如 INL、DNL 和失调电压)是否使用内部或外部电压基准进行表征?
使用时的预期 ENOB 是什么:
内部基准、和
外部2.5V±0.05%基准?
如果我不打算使用 DAC 功能、可以将 AVcc 引脚悬空、还是需要与特定电位相连?
该器件包括两个远程温度检测通道。 是否可以将它们用作通用差分 ADC 输入? 此外、它们是否可用于连接热电偶?
尊敬的 Erin:
再次感谢您的支持。
我还有几个问题:
使用外部2.5V±0.05%电压基准时、我预计会有多大的精度或误差?
使用内部基准时的典型增益误差和零代码误差是多少?
我还想了解电源时序要求。 我的计划配置如下:
AVDD = DVDD = AVCC = 5V
IOVDD = 3.3V
Vref = 2.5V
这些电源的时序控制是否很重要? 如果是、您是否可以建议一种方法来尽量减少所需的电源数量? 如果可以避免、我不希望使用四个单独的稳压器。
此外、如果我不使用 DAC 功能、是否可以将 DAC 输出引脚悬空?
期待您的指导。
尊敬的 Dhir:
1.可以通过将误差源的和方根相加来估算 TUE (总体未调整误差)。 您将需要转换为公共单位、如 FSR。 因此、例如:
ADC TUE (%)= sqrt (OSE^GE 2 +ADC^2 + INL^2 + REFERR^2)
其中 OSE 是失调电压误差、GE 是增益误差、INL 是 INL、REFERR 是基准误差。 这是一种估算未直接在器件上测量 TUE 时的好方法。 请注意、INL 几乎与基准无关、但 GE 随基准误差的增加而增加。
2. OSE 实际上不会随不同的基准电压而变化,但您可以预期 GE 会与基准误差相加。
3.我会让艾琳在这里发表评论。
4.未使用的 DAC 可以保持悬空。
谢谢、
Paul
您好、Paul、
感谢您的分享。
您能告诉我如何端接未使用的 DAC 吗? 我不想将它们悬空。 此外、我希望您也可以帮助我解决以下问题:
该器件包括两个远程温度检测通道。 是否可以将它们用作通用差分 ADC 输入? 此外、它们是否可用于连接热电偶?
我还想了解电源时序要求。 我的计划配置如下:
AVDD = DVDD = AVCC = 5V
IOVDD = 3.3V
Vref = 2.5V
这些电源的时序控制是否很重要? 如果是、您是否可以建议一种方法来尽量减少所需的电源数量? 如果可以避免、我不希望使用四个单独的稳压器。
我计划校准 ADC、 您能否确认所有通道的误差特性是否相同、或者是否需要单独校准每个通道?
此外、如果我使用两个单独的 ADC IC、每个 IC 是否需要单独校准?
此致、
Dhir
尊敬的 Dhir:
让 DAC 悬空应该不会有问题、尤其是在您不打算使用它们的情况下。 默认情况下、DAC 处于断电状态。 如果您要端接这些输出端、则使用10k 电阻器接地将是安全的方法。
1.温度检测通道仅适用于二极管,不适用于热电偶。 它们也不能用作通用 ADC 输入。
2. IOVDD、DVDD/AVDD 和 AVCC 数据表中有"首选"顺序。 如果 DVDD、AVDD 和 AVCC 同时开启就没关系、它们可以使用同一个电源。 IOVDD 不一定必须首先打开、但它是首选。 在序列结束时 VREF 正常。
3.每个通道使用相同的 ADC、但通过一个多路复用器。 每个通道之间可能存在轻微的偏移误差或增益误差差异、但总体而言、每个通道应几乎相同。 我建议校准每个 IC、因为 ADC 将具有不同的特性。
谢谢、
Erin
您好、Erin、
您能否澄清一下、灌电流和拉电流值是针对每个 I/O 引脚指定的、还是针对所有 I/O 引脚组合指定的? 我正在尝试确定3.3V IOVcc 电源轨上的最大电流消耗。
虽然我知道复位可能有助于缓解由不正确的上电顺序引起的问题、但我想更好地理解其含义:
如果不遵循建议的上电顺序、可能会发生什么潜在风险或故障?
使用非首选顺序是否会随着时间的推移对元件带来任何额外的电应力或热应力?
尊敬的 Dhir:
仿真需要一段时间才能运行、但设计人员说、一般来说、VCC 由于 VDD 二极管供应不正确、存储器加载不正确、您可能会在 ESD/ESD 上看到更高的电流。 如果时间段很短、则电气损坏不应该为任何值;请注意、我们没有任何关于 非理想 测序的长期应力的数据。 存储器问题通过硬件/软件复位来解决、这是我们通常建议的操作。 如果您有任何其他问题、请告诉我!
谢谢、
Erin
尊敬的 Dhir:
遗憾的是、还没有更新。 您可以将这两个数字的电容结合使用。 根据数据表:
在 REF-OUT 引脚上放置一个100pF 至10nF 的电容器。
对于使用内部基准的器件、在 REF-IN/CMP 引脚上放置一个4.7uF 的电容。
对于其他两个器件、在 REF-IN/CMP 引脚上放置一个小电容器(100pF 至10nF)。 外部基准将在此引脚上进入。
谢谢、
Erin