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[参考译文] AFE11612-SEP:有关 ADC 基准、ENOB、AVcc 和远程温度输入的问题

Guru**** 2368030 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1499257/afe11612-sep-queries-regarding-adc-reference-enob-avcc-and-remote-temperature-inputs

器件型号:AFE11612-SEP

工具/软件:

您好:

我对 ADC 器件的使用有一些技术问题:

  1. 数据表中提到的误差值(例如 INL、DNL 和失调电压)是否使用内部或外部电压基准进行表征?

  2. 使用时的预期 ENOB 是什么:

    • 内部基准、和

    • 外部2.5V±0.05%基准?

  3. 如果我不打算使用 DAC 功能、可以将 AVcc 引脚悬空、还是需要与特定电位相连?

  4. 该器件包括两个远程温度检测通道。 是否可以将它们用作通用差分 ADC 输入? 此外、它们是否可用于连接热电偶?

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    尊敬的 Dhir:

    1. 这些规格使用内部基准。

    2. ENOB:我会看看这个

    3. 应该将 AVCC 连接到 AVDD。 如果 AVCC 未通电、AFE 将不会通电。

    4. 热电偶:我也会研究这个问题。

    我目前不在办公室。 我将在下周回来、我会得到您剩余问题的答案。

    谢谢、
    Erin

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    尊敬的 Erin:

    再次感谢您的支持。

    我还有几个问题:

    1. 使用外部2.5V±0.05%电压基准时、我预计会有多大的精度或误差?

    2. 使用内部基准时的典型增益误差和零代码误差是多少?

    3. 我还想了解电源时序要求。 我的计划配置如下:

      • AVDD = DVDD = AVCC = 5V

      • IOVDD = 3.3V

      • Vref = 2.5V

      这些电源的时序控制是否很重要? 如果是、您是否可以建议一种方法来尽量减少所需的电源数量? 如果可以避免、我不希望使用四个单独的稳压器。

    此外、如果我不使用 DAC 功能、是否可以将 DAC 输出引脚悬空?

    期待您的指导。

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    尊敬的 Dhir:

    1.可以通过将误差源的和方根相加来估算 TUE (总体未调整误差)。  您将需要转换为公共单位、如 FSR。  因此、例如:

    ADC TUE (%)= sqrt (OSE^GE 2 +ADC^2 + INL^2 + REFERR^2)

    其中 OSE 是失调电压误差、GE 是增益误差、INL 是 INL、REFERR 是基准误差。  这是一种估算未直接在器件上测量 TUE 时的好方法。  请注意、INL 几乎与基准无关、但 GE 随基准误差的增加而增加。   

    2. OSE 实际上不会随不同的基准电压而变化,但您可以预期 GE 会与基准误差相加。

    3.我会让艾琳在这里发表评论。  

    4.未使用的 DAC 可以保持悬空。

    谢谢、

    Paul

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    您好、Paul、
    感谢您的分享。

    您能告诉我如何端接未使用的 DAC 吗? 我不想将它们悬空。 此外、我希望您也可以帮助我解决以下问题:

    1. 该器件包括两个远程温度检测通道。 是否可以将它们用作通用差分 ADC 输入? 此外、它们是否可用于连接热电偶?

    2. 我还想了解电源时序要求。 我的计划配置如下:

      • AVDD = DVDD = AVCC = 5V

      • IOVDD = 3.3V

      • Vref = 2.5V

      这些电源的时序控制是否很重要? 如果是、您是否可以建议一种方法来尽量减少所需的电源数量? 如果可以避免、我不希望使用四个单独的稳压器。

    3. 我计划校准 ADC、 您能否确认所有通道的误差特性是否相同、或者是否需要单独校准每个通道?
      此外、如果我使用两个单独的 ADC IC、每个 IC 是否需要单独校准?

    此致、
    Dhir

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    尊敬的 Dhir:

    让 DAC 悬空应该不会有问题、尤其是在您不打算使用它们的情况下。 默认情况下、DAC 处于断电状态。 如果您要端接这些输出端、则使用10k 电阻器接地将是安全的方法。  

    1.温度检测通道仅适用于二极管,不适用于热电偶。 它们也不能用作通用 ADC 输入。

    2. IOVDD、DVDD/AVDD 和 AVCC 数据表中有"首选"顺序。 如果 DVDD、AVDD 和 AVCC 同时开启就没关系、它们可以使用同一个电源。 IOVDD 不一定必须首先打开、但它是首选。 在序列结束时 VREF 正常。

    3.每个通道使用相同的 ADC、但通过一个多路复用器。 每个通道之间可能存在轻微的偏移误差或增益误差差异、但总体而言、每个通道应几乎相同。 我建议校准每个 IC、因为 ADC 将具有不同的特性。

    谢谢、
    Erin

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    尊敬的 Erin:

    感谢您的澄清。

    关于上电序列、我计划使用内部2.5V 基准。 您能否详细说明为什么推荐电源序列?如果不遵循电源序列、可能会出现什么问题?

    另外、您能帮我解决另一篇文章中关于 TMS570 MCU 的另一个问题吗?

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    尊敬的 Dhir:

    我不记得如果顺序不正确的话会发生什么。 如果客户想要执行非优选序列、我们通常建议进行器件复位(通过 RESET 引脚或通过写入 RESET 寄存器)。 我没有任何人回来遇到使用重置时出现的问题。

    我还帮助解决了 TMS 问题。 我保留了打开状态、以防微控制器团队有任何想要添加的内容、不确定他们为什么还没有收到问题。

    谢谢、
    Erin

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    谢谢、Erin!

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    您好、Erin、

    您能否澄清一下、灌电流和拉电流值是针对每个 I/O 引脚指定的、还是针对所有 I/O 引脚组合指定的? 我正在尝试确定3.3V IOVcc 电源轨上的最大电流消耗。

    虽然我知道复位可能有助于缓解由不正确的上电顺序引起的问题、但我想更好地理解其含义:

    1. 如果不遵循建议的上电顺序、可能会发生什么潜在风险或故障?

    2. 使用非首选顺序是否会随着时间的推移对元件带来任何额外的电应力或热应力?

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    尊敬的 Dhir:

    这些是每个 I/O 引脚。  

    我将与设计人员讨论时序控制问题、因为数据表未指定可能发生的情况。 他们也许能够运行仿真来给出更好的想法。

    谢谢、
    Erin

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    尊敬的 Dhir:

    仿真需要一段时间才能运行、但设计人员说、一般来说、VCC 由于 VDD 二极管供应不正确、存储器加载不正确、您可能会在 ESD/ESD 上看到更高的电流。 如果时间段很短、则电气损坏不应该为任何值;请注意、我们没有任何关于 非理想 测序的长期应力的数据。 存储器问题通过硬件/软件复位来解决、这是我们通常建议的操作。 如果您有任何其他问题、请告诉我!

    谢谢、
    Erin

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    谢谢、Erin!

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    您好、Erin、
    是否对仿真进行任何更新? 此外、 我计划在单个系统中使用三个 ADC、并打算使用其中一个 ADC 的 VREF 输出作为另外两个 ADC 的 VREF 输入。 请提供任何相关应用手册以及针对该配置的推荐去耦电容器。

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    尊敬的 Dhir:

    遗憾的是、还没有更新。 您可以将这两个数字的电容结合使用。 根据数据表:

    在 REF-OUT 引脚上放置一个100pF 至10nF 的电容器。
    对于使用内部基准的器件、在 REF-IN/CMP 引脚上放置一个4.7uF 的电容。
    对于其他两个器件、在 REF-IN/CMP 引脚上放置一个小电容器(100pF 至10nF)。 外部基准将在此引脚上进入。

    谢谢、
    Erin

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    谢谢 Erin! 另外、请尽快分享仿真结果。

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    尊敬的 Dhir:

    为延误道歉! 这 显然是极其困难的设计人员做一个长期的模拟这,但对于短期模拟,他看到没有什么不好。 我已经将一个 EVM 设置为在周末仅使用 VIO 运行、以便查看周一我回来时是否有任何问题。 从设置的几分钟开始、我没有看到任何高电流或 VDD / VCC 电压被上拉。  

    谢谢、
    Erin

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    尊敬的 Erin:

    感谢您的分享。 急切地等待测试结果。

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    尊敬的 Dhir:

    器件仍然运行良好! 我认为随着时间的推移、执行错误的排序不应该有任何问题。 只需确保在上电后进行软件复位、以防止任何器件存储器加载问题。

    谢谢、
    Erin

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    谢谢 Erin!