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[参考译文] ADC128S102:ADC128S102 互调失真

Guru**** 2694555 points

Other Parts Discussed in Thread: ADC128S102

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1581021/adc128s102-adc128s102-inter-modulation-distortion

部件号:ADC128S102


尊敬的团队:

下图描绘了 ADC128S102 的 IMD 二阶和三阶产品、结果是不可重复的。

image.png
根据数据表、遵循了以下 5V 条件下的条件。
image.png

采集的样本数为 2000
采样速率为 1MSPS  
FA=19.5K 且 F2 为 20.5K

计算 FFT 时不使用窗口化。

我想知道为什么结果是不可重复的、请帮助解决相同的问题。


此致、
Muhammed ESA A.


 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Muhammed:

    我相信、在上一个主题中、您提到过噪声源存在问题。 您是否能够解决此问题? 您能分享您用于测试的来源吗? 对于表征、我们使用高精度、低噪声源、尽管该表征是美国国家半导体很久以前完成的、但我不确定这里使用的是什么仪器。

    通常、我们会应用一个窗口来减少由于非相干采样而发生的频谱泄漏。 您是否需要进行相干采样、如果是、如何将 ADC 时钟与信号源同步? 我们通常使用 7-term Blackman-Harris 窗口。

    另外、是否要试用不同的器件、或者是否要使用相同的器件进行相同的测试?

    此致、
    Joel

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    尊敬的 Joel:

    感谢您的回答。

    显示的数据适用于同一器件的 30 循环运行。

    此处使用的仪器是 16 位函数发生器、非常适合用于 12 位 ADC、并且仪器发出的信号足够纯净。

    ADC 时钟仪器和信号源与相同的 10MHz 基准时钟同步。

    FA = 20.5kHz、FB = 19.5kHz

    Fs = 1000000

    N=36000

    不使用窗口化、因为信号音调不存在泄漏和相干

    从 DUT 输出重建的波形:


    DUT 输出频谱:


    请建议是否存在任何可产生可重复结果的已知一致性和测试条件。



    此致、

    Muhammed ESA A.

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    尊敬的 Muhammed:

    我想我需要一些时间与我的团队讨论这个问题。 请允许我花些时间回顾一下、然后再联系您。  

    为了帮助 我们进行分析、您是否能够与我们分享您试用的时域数据? 如果数据可用、您可以将其作为.zip 附加到此处。

    此致、
    Joel

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    e2e.ti.com/.../IMD_5F00_LOOP_5F00_DATA.zip
    尊敬的 Joel:

    请查找随附的 5 环路 ADC128S102 IMD 测试数字数据文件。


    此致、

    Muhammed ESA A.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢。 我将详细了解我们自己的数据分析工具、然后返回给您。

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    尊敬的 Muhammed:

    有四个二阶 IMD 产品需要考虑、所有产品都必须在采样窗口内具有整数个周期(36,000 个样本)。  

    如何确保以下二阶 IMD 产品在采样窗口内具有整数个周期?  

    1. F2-F2. f1

    2. 2F1.

    3. F2+ f1

    4.2f2.

    此外、 您是否直接使用 10MHz 时钟作为 ADC 时钟?

    此致、
    Joel

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    尊敬的 Joel:

    请找到下图以进行 BIN 计算。

    一个单独的时钟源作为 ADC 时钟源进行连接、并且相同的时钟源进行同步。

    您是否愿意分享 TI 对该器件的测试条件和后处理操作、因为这对于进一步的实验很有帮助。


    此致、

    Muhammed ESA A.

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    尊敬的 Muhammed:

    此器件最初由美国国家半导体公司 (National Semiconductor) 设计。 我相信我们不会有最初使用的方法。 我现在尝试的是使用矩形窗口和 Blackman-Harris 窗口生成数据的 FFT、并检查这是否显示了不良结果。

    在这种情况下、可能是由于上述原因、更高阶的 IMD 分量也需要在采样窗口中具有周期的整数倍。  

    诚然、与其他 AC 规范相比、我们对 IMD 不太熟悉。 我可以问您具体关注 IMD 的情况吗?

    此致、
    Joel