[参考译文] ADC128S102：ADC128S102 互调失真

尊敬的 Muhammed：

我相信、在上一个主题中、您提到过噪声源存在问题。 您是否能够解决此问题？ 您能分享您用于测试的来源吗？ 对于表征、我们使用高精度、低噪声源、尽管该表征是美国国家半导体很久以前完成的、但我不确定这里使用的是什么仪器。

通常、我们会应用一个窗口来减少由于非相干采样而发生的频谱泄漏。 您是否需要进行相干采样、如果是、如何将 ADC 时钟与信号源同步？ 我们通常使用 7-term Blackman-Harris 窗口。

另外、是否要试用不同的器件、或者是否要使用相同的器件进行相同的测试？

此致、
Joel

尊敬的 Joel：

感谢您的回答。

显示的数据适用于同一器件的 30 循环运行。

此处使用的仪器是 16 位函数发生器、非常适合用于 12 位 ADC、并且仪器发出的信号足够纯净。

ADC 时钟仪器和信号源与相同的 10MHz 基准时钟同步。

FA = 20.5kHz、FB = 19.5kHz

Fs = 1000000

N=36000

不使用窗口化、因为信号音调不存在泄漏和相干

从 DUT 输出重建的波形：


DUT 输出频谱：


请建议是否存在任何可产生可重复结果的已知一致性和测试条件。



此致、

Muhammed ESA A.

尊敬的 Muhammed：

我想我需要一些时间与我的团队讨论这个问题。 请允许我花些时间回顾一下、然后再联系您。  

为了帮助 我们进行分析、您是否能够与我们分享您试用的时域数据？ 如果数据可用、您可以将其作为.zip 附加到此处。

此致、
Joel

e2e.ti.com/.../IMD_5F00_LOOP_5F00_DATA.zip
尊敬的 Joel：

请查找随附的 5 环路 ADC128S102 IMD 测试数字数据文件。


此致、

Muhammed ESA A.

谢谢。 我将详细了解我们自己的数据分析工具、然后返回给您。

尊敬的 Muhammed：

有四个二阶 IMD 产品需要考虑、所有产品都必须在采样窗口内具有整数个周期（36,000 个样本）。  

如何确保以下二阶 IMD 产品在采样窗口内具有整数个周期？  

1. F2-F2. f1

2. 2F1.

3. F2+ f1

4.2f2.

此外、 您是否直接使用 10MHz 时钟作为 ADC 时钟？

此致、
Joel

尊敬的 Joel：

请找到下图以进行 BIN 计算。

一个单独的时钟源作为 ADC 时钟源进行连接、并且相同的时钟源进行同步。

您是否愿意分享 TI 对该器件的测试条件和后处理操作、因为这对于进一步的实验很有帮助。


此致、

Muhammed ESA A.

尊敬的 Muhammed：

此器件最初由美国国家半导体公司 (National Semiconductor) 设计。 我相信我们不会有最初使用的方法。 我现在尝试的是使用矩形窗口和 Blackman-Harris 窗口生成数据的 FFT、并检查这是否显示了不良结果。

在这种情况下、可能是由于上述原因、更高阶的 IMD 分量也需要在采样窗口中具有周期的整数倍。  

诚然、与其他 AC 规范相比、我们对 IMD 不太熟悉。 我可以问您具体关注 IMD 的情况吗？

此致、
Joel