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部件号：ADS8684 “线程：测试”中讨论的其它部件，
亲爱的朋友：
在 EMC 测试中，当温度升高时，会出现一个通道错误。 我们需要您在此处提供一些建议。
工作条件如下：
- 测试项目：CS 测试级别：10V 电压0.15Mhz -230MHz 测试端口：AD 输入端口
- 测试现象：IO 端口输出超出限制
- 网络：4DA (AO)模块连接到逆变器的 AI 接口，并给出固定值(0-10V)，然后逆变器在读取 AI 值后通过自己的 AO 接口为4AD (AI)提供相同的值。) 模块(ADS8684)，然后通过 EtherCAT 读取4AD 模块的收集值，并将其与4DA 模块的输出值进行比较。 4DA 模块的输出功率范围为0-10V，4AD 模块的输入功率范围为0-10V，相应的背景软件将转换为0-20000代码值以供显示。
错误报告：
- 在上述网络中执行 CS 测试时，端口 A03读取的值(对应于芯片 PIN22，23)将被错误报告(即4DA 输出值与读取4AD 输入值不匹配)，其他端口不会报告错误。 每个错误的错误值为255。
测试问题大致位于：
- 在测试过程中，如果工作时间过长，机器时间将报告错误，如果工作时间过短，则不会报告错误。 因此，怀疑温度会影响其输出。
- 使用风扇冷却机器后，经过几轮测试后，未报告错误。
- 在测试过程中，有两台机器，一台报告错误，另一台不报告错误。 两个原型的 AD 芯片被交换。 最初报告错误的机器未报告错误，而未报告错误的机器报告错误。 因此定位是一个芯片问题。
- 使用两台新机器重复步骤3，测试结果相同。
问题诊断：温度影响 ADS8684IDBTR 的 EMC 抗干扰性能
我们是否对 EMI 防电路有任何建议？ 我认为 EMC 测试中的温度较高可能会影响抗干扰能力。
