我认为这应该是医学论坛,但基于某些原因,我只能选择高速论坛。
我有几个关于ADS5263偏移规格的问题。 在电气特性表中,它将偏移列为+-10 mV典型值,+-30mV最大值 假设满刻度为4V差分和16位分辨率,30 mV偏移会导致+/- 491个代码的代码错误(10 mV偏移164个代码)。 这是否正确?
图34显示了输入短路的输出代码直方图。 直方图的主箱比中标尺小202 LSB (相当于约12 mV)。 这是否与抵消直接相关? 我不确定这是否真的等同于偏移规格,因为这是在中尺度上测量的,其中可能包括偏移误差之上的增益误差。
另外,图34是从一个输入上的一个设备测量的吗? 还是多个输入或设备的平均值?
在ADC输入中没有输入信号(未短路)的4个器件的每个输入上收集了一些数据。 每个ADC输入均通过每个输入上的50欧姆与VCM连接进行交流耦合。 在温度和平均过程中,以100MSPS的速率对每个ADC输出进行多个输出测量,中尺度偏移范围从-140 LSB到-460 LSB不等。 大多数变化是从ADC到ADC,而不是从温度变化。 这种很大的变化是否合理? 有些ADC比图34所示的高得多。 让输入保持打开状态的测量技术可能会增加错误?