根据ADC32RF45数据表，当ADC通道启用了十进制时，我应该能够启用几种不同的数据测试模式来替换ADC样本。 这种情况在以下两个地方有描述(不一致)：
-在8.3 ．10.1 部分中，测试模式选项寄存器被描述为在位移0x37处，与抽取过滤器页面(通道A的地址为0x5037，通道B的地址为0x5837)。 此处说明第7-4位控制测试模式输出，默认0000对应于实际ADC输出样本。
－在8.5 ．12.22 部分中，有一个类似的说明，只是它说明寄存器位3－0在偏移0x37处控制测试模式。 它说明其他位必须用零写入。
以下哪些描述(如果有)是正确的？ 在我的应用程序中，我从通道A的DDC流式传输样本，小数因子为4。 我尝试将不同的测试模式设置应用到指定寄存器，但我从未看到任何测试模式，仅看到实际ADC样本数据。 由于数据表提供了两个位的位置说明，我已经尝试了这两个。 例如，为了尝试启用数字斜坡测试模式，我编写了以下值：
寄存器0x5037 = 0x04
和
寄存器0x5037 = 0x40
这两种方法都不会对数据流产生任何影响。 与测试模式相关的唯一其它寄存器设置是寄存器偏移0x3A，测试PAT RES和TP RES EN。 这些说明用于"重置"测试模式。 描述很简洁，但我尝试了以我能想到的每种方式处理这些比特，但仍然没有看到对数据流的影响。
这些测试模式在ADC32RF45的生产模型中是否正常工作？ 我注意到ADC32RF44在其数据表中记录了一些附加字段和寄存器，但我没有看到任何与ADC32RF45不同的实质内容(我不确定它是否适用)。
