[参考译文] ADS4129：使ADC在构建的测试模式中进行源时遇到问题

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/640813/ads4129-trouble-getting-the-adc-to-source-in-built-test-patterns

您好，

目前，我在获取ADS4129 ADC以获取任何内置测试模式时遇到一些问题。 例如，我首先用地址0x25将数据0x02编程到寄存器，以便使ADC输出数据表中提到的所有1的模式。 但输出位仍显示为在正常操作中切换，而不是保持所有1。

为了排除任何与SPI编程计时相关的问题等，我也通过OVR-SDOUT引脚进行了回读，来自0x25寻址reg的回读数据似乎与写入的数据(即0x02)相匹配。 请查找我遵循的序列的附加快照，其中：

1. 我首先用地址0x25将数据0x02编程到寄存器
2. 然后将数据0x02编程到地址为0x00的寄存器，以启用SDOUT回读，
3. 最后 ，将伪数据0x05编程到地址为0x25的寄存器中，以便再次读取它，在这种情况下，我似乎观察到SDOUT上的预期值。

在附加图中，蓝色轨迹是SDIN，黄色轨迹是SCLK信号，绿色轨迹是SDOUT信号。

我认为SDOUT与写入值匹配意味着编程正确吗？ 请您评论一下这里可能会出现什么问题吗？ 我需要获取测试模式来源，以便开始修复FPGA捕获计时的工作

谢谢！

Anoop