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[参考译文] ADC34J45：测试图案工作不正常

admin
Guru**** 2595770 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC34J45

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/653912/adc34j45-test-pattern-not-working-well

部件号：ADC34J45

您好，

我正在尝试 使用测试模式功能测试ADC34J45的JESD204B串行器。

我使用0x02设置寄存器0x06，并根据数据表尝试了多个选项：

0x0A，0x0B 数据表 已测量
0x11 全部为0 好的
0x22 所有1 好的
0x33 切换 好的
0x44 数字斜坡 不正常，从位1得到计数器，而不是从位0得到计数器
0x66 校直模式0x3AAAA 不正常，得到0x2AAAA

这意味着我遇到了SerDes计时问题，或者ADC测试模式的工作方式与此类似。

此致，

跑了

  • 0
    TI__Guru**** 2595770 points
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    跑步，
    我已将此邮件发送给熟悉ADC34J45的工程师
    此致，
    Brian
  • 0
    TI__Guru**** 2595770 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的RAN：
    这个问题是否已经解决？
    第一位似乎有问题。

    团队，
    有人能提供建议吗？

    此致，
    NIR。