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在我的ADC项目中- adc12d1800,双通道采样,Q路正常,I 路异常。
特异性的异常现象如下:噪声试验,XilinX-ISE-Chipscope的观测,DI和不重叠。 多次重置不稳定的位置。
这种现象在一段时间后的工作中出现。
图1是正常现象
图2和3 是异常现象(蓝DI;绿DID;红DQ和DQD)
造成这种现象的原因是什么? 感谢您的帮助!
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在我的ADC项目中- adc12d1800,双通道采样,Q路正常,I 路异常。
特异性的异常现象如下:噪声试验,XilinX-ISE-Chipscope的观测,DI和不重叠。 多次重置不稳定的位置。
这种现象在一段时间后的工作中出现。
图1是正常现象
图2和3 是异常现象(蓝DI;绿DID;红DQ和DQD)
造成这种现象的原因是什么? 感谢您的帮助!
你(们)好
ADC12D1800 ADC使用交错校准体系结构。 I转换器通道由两个交错ADC组成,Q转换器通道由两个交错ADC组成。 器件上总共有4个ADC内核。
在适当的条件下运行时,内置自校准过程将优化4个ADC内核的线性,并匹配它们的满刻度范围和偏移。 可能是在ADC时钟和功率完全稳定之前运行校准。
一旦ADC通电,具有稳定时钟,重新运行自校准过程。 (请参阅数据表第5.3 3节)。
如果这不能改善DI和DID数据之间的偏移匹配,则问题可能是由于ADC和FPGA数据捕获设备之间的数据接口中的位卡滞所致。 您可以通过启用测试模式并将接收到的数据与表5-2或5-3中所示的数据进行比较来验证接口。
此致,
Jim B
你(们)好
您看到的I信道数据行为是意外的。 您是否仅在单个ADC设备上观察到相同的行为,或者是否在您的设计的多个实例上发生了这种情况?
您能否提供显示所有ADC连接(包括时钟源,电源等)的示意图?
您是否已确认ADC电源电压在规格范围内?
您是否可以等到部件进入异常模式,然后启用测试模式以确认问题确实不在数据路径中?
您能否在测试模式,正常数据模式和异常数据模式下,在ADC的每个输出端口上提供十六进制或十进制格式的原始数据?
是否正在写入任何设备配置寄存器? 如果是,您能否提供正在编写的内容的详细信息?
此致,
Jim B
你(们)好
我们有六块板,设计相同,程序相同,第一次都是正常的,一个月后,只有一个不正常的。
1.我可以确认ADC的所有电源电压都是正确的。我将它与电路板进行了比较。
2.按照你们的建议,我修改了程序。在PLL时钟锁定后,ADC进入 异常模式,然后大约20秒,启用测试模式。 现象是测试模式正确。
图1是 测试模式下ADC的每个输出端口上的异常主板十六进制原始数据。
图2是标准 模式下ADC的每个输出端口上的异常板的十六进制噪声原始数据。
图3是 标准 模式下ADC的每个输出端口上十六进制噪声的电路板原始数据。
4.图4是注册列表。
感谢您的帮助!
梁先生
谢谢
我将查看其他信息。 您是否能够提供示意图? 如果没有,您能否确认您使用的是交流耦合还是直流耦合模拟输入?
受影响信道的模拟输入是否可能应用了某些直流电平?
可能是显示问题的单个ADC已以某种方式损坏。 在这种情况下,您可以按照此处列出的步骤提交质量评估:
www.ti.com/.../customer_returns.page
此致,
Jim B
你(们)好
我使用交流耦合模拟输入。以下是 一个简化的原理图。请忽略 原理图中的"adc10d1500",我共享此系列的封装。
e2e.ti.com/.../adc12d1800-board_2D00_simplified.pdf
谢谢!
梁先生