[参考译文] ADS131M08：外部参考校准

您好Afzaal：

假设您在谈论差分输入电压，那么您似乎误解了该规范。

这是为了解释差分电压的输入限制。 通过内部参考，差动电压可以利用整个满刻度范围， 而通过外部参考，您可以说您有该满刻度范围的4 % 限制。 对于需要上下文的任何其他读者，我们回顾全刻度范围(FSR)可表示为FSR = m * Vref / gain，其中m =因子，由输入类型确定(例如真差，puesdo差分，单端等)。 更多信息见本帖 ：https://e2e.ti.com/blogs_/archives/b/precisionhub/posts/it-s-in-the-math-how-to-convert-adc-code-to-a-voltage-part-1 

SPEC表示在使用外部参考时超出规格时导致非线性输入行为的损失。 因此，我认为询问有关校准或温度或规格范围变化的问题是没有意义的。 我建议将此视为输入的限制，即在使用外部参考时，您只能获得FSR的96 % 的线性行为。 这是否合理？ 相反，如果用户能够处理动态范围内因使用外部参考而出现的骤降，此规范通常会向用户发出信号。   

最佳，

-Cole

您好Afzaal：

实际上，我正在得到团队的一些澄清，所以我将在平均时间内划掉我的答案。 我应该在接下来的几天内得到一个答案。

最佳，

-Cole

您好Cole：
谢谢。 我将添加一些内容以澄清 我的阅读方式。

如果是外部参考，FSR是VREF的96 %。 因此，1.25V的VREF提供1.2V的FSR。 假设这是正确的，我的疑问是，在 不同的温度下，单位之间的96 % 比率有多大差异。 如果它在单位和温度之间保持一致，那么我只需要 测量我的外部参考并将其96 % 用作FSR，但如果不是，我也需要计算出比率。

您好Afzaal：

是的，有道理。 对我来说，最大的问题是0.96 缩放是数字还是模拟。 如您所想，如果采用数字形式，0.96 将不会随温度或工艺变化。 现在还在和团队交谈，希望能尽快得到答案。

最佳，

-Cole

您好，
非常感谢。 我还有一个问题。

您是否还可以确认内部测试信号的2/15比率(第26页)是否也是数字的？
同样在外部参考的情况下， 测试信号是(2/15 * VREF)还是(2/15 * 0.96 * VREF)。

您好Afzaal：

我将与团队一起检查内部测试信号的2/15比率。  

至于测试信号，我会改变我的想法，使REFIN引脚的电压与调制器所用的VREF电压有差异(即使只是数字刻度)。 由于您在REFIN引脚处使用1.25V，VREF = 1.2V。 换言之，它将是2/15*VREF或2/15*VRFIN*REFIN 0.96。 鉴于VREF用于差分电压规格，我知道这是如何令人困惑的，并且我已将该反馈传递给团队。

此外，1.2V和VREF在数据表中多次提及，您应该假定它们指的是VREF电压，而不是REFIN引脚电压。 希望这会有所帮助。  

最佳，

-Cole

您好，

我提出这个问题是因为我在使用内部/外部参考时获得不同的读数。

测试信号的平均ADC读数。

内部参考资料： 106.8857万
外部参考电压(1.249V)： 112.5024万

我的理解是，由于 这两种情况下的VREF都是1.2V，它们应该非常接近，而不是5 % 关闭。 所以我(不正确)猜2/15是在分割REFIN。 可能是配置错误。 我将很快进行更彻底的测试。

谢谢。

您好Afzaal：

有意义。 您的测试使用的增益设置是什么？ 我很想知道您是否在使用较高的增益设置，因此输入电压更小。

谢谢！

-Cole

您好Afzaal：

抽象地说，我从团队那里学到了一些知识，测试信号有两个组成部分：提供测试DAC和相应设置反馈的"反馈"。    对于温度和硅加工的变化，"反馈"可忽略不计，因为它是衡量比率的指标，因为没有更好的术语。 从1 % 设计角度来看，测试DAC不应超过+/-DAC (对于温度和过程)，

在实际系统中是否有切换外部和内部的实际理由？ 或者这是一项验证工作吗？

假设内部和外部是输出代码，我会说它有点偏。  您的流程看起来是正确的。 让我在EVM上完成相同的过程，看看是否可以重现它。 编辑：我手边没有干净的外部引用。 使用手头的台式设备会导致错误过多

最佳，

-Cole

编辑：已删除支持数据声明，设计团队的陈述仍然有效。