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[参考译文] ADS131M08:外部参考校准

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1099358/ads131m08-external-reference-calibration

部件号:ADS131M08

您好,

我使用的是外部参考, 根据数据表 (第7页) ,VREF乘以0.96。
是否有任何信息说明(0.96)在不同芯片和温度范围内的一致性。 还是应该为每个单元校准。

谢谢,此致。

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    您好Afzaal:

    假设您在谈论差分输入电压,那么您似乎误解了该规范。

    这是为了解释差分电压的输入限制。 通过内部参考,差动电压可以利用整个满刻度范围, 而通过外部参考,您可以说您有该满刻度范围的4 % 限制。 对于需要上下文的任何其他读者,我们回顾全刻度范围(FSR)可表示为FSR = m * Vref / gain,其中m =因子,由输入类型确定(例如真差,puesdo差分,单端等)。 更多信息见本帖 :https://e2e.ti.com/blogs_/archives/b/precisionhub/posts/it-s-in-the-math-how-to-convert-adc-code-to-a-voltage-part-1 

    SPEC表示在使用外部参考时超出规格时导致非线性输入行为的损失。 因此,我认为询问有关校准或温度或规格范围变化的问题是没有意义的。 我建议将此视为输入的限制,即在使用外部参考时,您只能获得FSR的96 % 的线性行为。 这是否合理? 相反,如果用户能够处理动态范围内因使用外部参考而出现的骤降,此规范通常会向用户发出信号。   

    最佳,

    -Cole

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    您好Afzaal:

    实际上,我正在得到团队的一些澄清,所以我将在平均时间内划掉我的答案。 我应该在接下来的几天内得到一个答案。

    最佳,

    -Cole

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    您好Cole:
    谢谢。 我将添加一些内容以澄清 我的阅读方式。

    如果是外部参考,FSR是VREF的96 %。 因此,1.25V的VREF提供1.2V的FSR。 假设这是正确的,我的疑问是,在 不同的温度下,单位之间的96 % 比率有多大差异。 如果它在单位和温度之间保持一致,那么我只需要 测量我的外部参考并将其96 % 用作FSR,但如果不是,我也需要计算出比率。


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    您好Afzaal:

    是的,有道理。 对我来说,最大的问题是0.96 缩放是数字还是模拟。 如您所想,如果采用数字形式,0.96 将不会随温度或工艺变化。 现在还在和团队交谈,希望能尽快得到答案。

    最佳,

    -Cole

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    您好Afzaal:

    我已经确认,从外部参考到ADC所见参考的0.96 调整是数字的,因此温度或过程没有变化。

    最佳,

    -Cole

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    您好,
    非常感谢。 我还有一个问题。

    您是否还可以确认内部测试信号的2/15比率(第26页)是否也是数字的?
    同样在外部参考的情况下, 测试信号是(2/15 * VREF)还是(2/15 * 0.96 * VREF)。

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    您好Afzaal:

    我将与团队一起检查内部测试信号的2/15比率。  

    至于测试信号,我会改变我的想法,使REFIN引脚的电压与调制器所用的VREF电压有差异(即使只是数字刻度)。 由于您在REFIN引脚处使用1.25V,VREF = 1.2V。 换言之,它将是2/15*VREF或2/15*VRFIN*REFIN 0.96。 鉴于VREF用于差分电压规格,我知道这是如何令人困惑的,并且我已将该反馈传递给团队。

    此外,1.2V和VREF在数据表中多次提及,您应该假定它们指的是VREF电压,而不是REFIN引脚电压。 希望这会有所帮助。  

    最佳,

    -Cole

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    您好,

    我提出这个问题是因为我在使用内部/外部参考时获得不同的读数。

    测试信号的平均ADC读数。

    内部参考资料: 106.8857万
    外部参考电压(1.249V): 112.5024万

    我的理解是,由于 这两种情况下的VREF都是1.2V,它们应该非常接近,而不是5 % 关闭。 所以我(不正确)猜2/15是在分割REFIN。 可能是配置错误。 我将很快进行更彻底的测试。

    谢谢。

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    您好Afzaal:

    有意义。 您的测试使用的增益设置是什么? 我很想知道您是否在使用较高的增益设置,因此输入电压更小。

    谢谢!

    -Cole

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    您好,
    我仔细检查了所有东西。
    时钟为8.3M,ADC在1024 OSR /4096 SPS下采样。
    增益始终为0。
    CHX_CFG最初设置为0x1以获得偏移量。
    然后将其写入 CHX_ocal寄存器。
    然后,CHX_CFG为0x2 ,我们 计算 4096个样本的平均值。

    根据参考设置,我仍获得不同的读数。

    我应该补充一点,偏移也是5 % Off。

    内部参考资料:1286
    外部参考资料:1354

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    您好Afzaal:

    抽象地说,我从团队那里学到了一些知识,测试信号有两个组成部分:提供测试DAC和相应设置反馈的"反馈"。    对于温度和硅加工的变化,"反馈"可忽略不计,因为它是衡量比率的指标,因为没有更好的术语。 从1 % 设计角度来看,测试DAC不应超过+/-DAC (对于温度和过程),

    在实际系统中是否有切换外部和内部的实际理由? 或者这是一项验证工作吗?

    假设内部和外部是输出代码,我会说它有点偏。  您的流程看起来是正确的。 让我在EVM上完成相同的过程,看看是否可以重现它。 编辑:我手边没有干净的外部引用。 使用手头的台式设备会导致错误过多

    最佳,

    -Cole

    编辑:已删除支持数据声明,设计团队的陈述仍然有效。