[参考译文] ADC081S021：输入源阻抗

Tacq = 350ns 时电压不会变化。  我的假设是否正确？  

我不理解你的问题

如果您询问问题#3， 在 Tacq 期间输入电压是否发生变化？

当 Vin+0.3V>VA 时、内部 ESD 二极管将会旋转并将输入电流重定向至 VA、建议 VA 的电源能够吸收该电流。  如果在 Tacq 期间发生这种情况、器件将测量正满读数。

如果您询问有关#1的问题、则 Tacq 期间输入电压是否会因动态阻抗而变化。 在 Tacq 期间、输入信号需要为 ADC 内部采样保持电容器充电。 Tacq 期间输入电路的这种性能如何决定 ADC 测量的精度。

请注意下图、该图像取自在线培训视频： SAR 和 Delta Sigma 基本操作。 输入信号必须在 Acq 时间内驱动该信号。 当 S1断开时、转换阶段开始、输入信号不再连接到 ADC 的内部电路。此开关根据使用 ADC 的采样率/时钟速率进行。  

问题是关于#1： Tacq = 350ns 时电压不会变化。  我的假设是否正确？ 我可以使用1.8K 的源阻抗吗？

我建议您查看  SAR 和 Delta Sigma 基本操作~单击此处~

您可以共享原理图吗？ ADC 的采样率是多少？

幻灯片10： 假设 Vcsh (t0)= 0V (即 S2完成其工作)、该公式简化为：

Vcsh (t)= Vin *(1 - e^(-t/(rsh*TSH))。  如果 t/(rsh*TSH)= 5 (如上所述为五个时间常数)、Vcsh (t)= Vin * 0.993。  这不是相当1/2 LSB、即8位分辨率下的 Vin * 0.998。  6个时间常数也不够、但7个时间常数将提供 Vin * 0.999。

SO (源阻抗+ rsh)*(csh + CPIN)* 7 < Tacq

源阻抗< Tacq /((csh + CPIN)* 7)- rsh

源阻抗< 350E-9 /(30E-12*7)- 500

源阻抗< 1.1K

请仔细检查我的假设和数学计算。