[参考译文] ADS131M08：ADS131M08

您好、Ryan、

感谢您的快速回复。

更具体地说  、我们的 ADS131M08以及测得的正测试信号、输入通道之间存在太大差异、但这正是它的样子。 请注意、这种类型的结果是在多个单位上测量的。

接下来、关于校准、我们的设计不支持对8个通道的任何输入进行2点或 GND 的内置测试校准、因此、我想使用内部测试信号、并且 MUXn ADC 功能仅适用于 ADC IC 校准级别：

点1：MUX0[1：0]至 MUX7[1：0]= 10 ->插入正测试

点2：MUX0[1：0]到 MUX7[1：0]= 01 -->对模拟地短路

从上面提到的所有噪声因素来看、电阻分压器是"实际"应用中未使用的因素、这是我对校准效率的关注。

VREF 数据表提到1.2V、误差为+/-0.1%、根据通道1、VREF 似乎正常、这会给我留下其他因素...

您是否建议 进行此 IC 级校准？ 我假设内部测试信号是出于这个原因

此致、

Eran

您好、Eran、

提供的内部测试信号主要用于调试、以验证器件配置和 SPI 通信。 正负直流测试信号电压的修整不够精确、无法用于真正的校准。  

MUX[1：0]= 01b 设置将在内部将两个 ADC 输入设置为接地。 这样可在0V 差分输入下精确测量 ADC 通道噪声和失调电压。 在此测试期间、我们将输入接地、以便共模不会悬空。 我建议您执行此测试、并将每个通道的 IC 偏移校准值存储在 CHN_ocate_MSB 和 CHN_ocate_LSB 寄存器中。

此致、

Ryan