您好!
我们的辐射 SEee 测试表明、OCR 寄存器是敏感的 SEUS (位翻转)。
我们的设计不使用此功能、我们不使用:
8.4.1.2正常运行期间的偏移校准
我们遇到的问题之一是检测 OCR 寄存器位翻转、因为这是不可能的
读取该寄存器。
我们想确定该寄存器对 ADC 转换数据的全部影响、
您是否可以向我们展示该寄存器和中有多少位
可应用于转换数据的最大偏移量(正或负)?
非常感谢、
Gerry
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您好!
我们的辐射 SEee 测试表明、OCR 寄存器是敏感的 SEUS (位翻转)。
我们的设计不使用此功能、我们不使用:
8.4.1.2正常运行期间的偏移校准
我们遇到的问题之一是检测 OCR 寄存器位翻转、因为这是不可能的
读取该寄存器。
我们想确定该寄存器对 ADC 转换数据的全部影响、
您是否可以向我们展示该寄存器和中有多少位
可应用于转换数据的最大偏移量(正或负)?
非常感谢、
Gerry
您好、Gerry、
只是为了澄清一些问题... 您是否根本没有使用偏移校准功能? 您说您在正常运行期间不使用校准、但在上电时是否使用偏移校准?
如果我理解正确、您会担心、如果 OCR 寄存器受到影响并且某些位发生翻转、那么这将影响转换数据。 我的理解是否正确? 虽然我不会立即知道 OCR 寄存器可以包含的位数、但我将与团队讨论这一点、并尽快回复您。
此致、
Aaron Estrada