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器件型号：LMP92066 大家好、我想问一下 LMP92066在125°C 运行期间或者在温度超过125°C 的情况下的潜在故障机制(估计为135°C)
此器件是否会出现正常降级、例如 DAC 输出端的模拟电压漂移、或者如果器件超过125°C、是否会出现硬故障、例如热关断
我先前对该器件的问题是、数据在十年内保持、答案是器件在高温下烘烤。 在运行期间是否应用了高温烘烤？
您好、Christopher、
很难肯定故障机制会是什么。 在器件开发过程中、我们会进行加速寿命测试、以确保器件在预期寿命内保持正常运行、具体取决于资质要求(目录、汽车、EP 等)。 该器件经过了高温超寿命(HTOL)测试。 例如、我们可能会在150°C 下将器件烘烤1000小时、这将为我们的寿命建模提供加速因子。 该加速因子可用于使用阿累尼乌斯模型估算等效寿命。
。
使用此模型、您可以估算各种温度下的安全工作寿命。 运行的应力温度越接近、寿命就越短。 如果您在125°或135°C 下工作、则您的系数非常低。 如果您在150°C 的温度下运行、则 AF 为1、我们仅显示1000小时的使用寿命。
在使用与新器件相同的测试限制加速寿命测试后、我们会验证功能。 因此、虽然可能会出现一些降级或漂移、但如果漂移超出我们的指定限制、则仍然会发生故障。
除此之外、故障机制未知。 我建议您创建任务剖面、并使用阿累尼乌斯方程来估算该剖面的器件预计寿命。
谢谢、
Paul
