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器件型号：ADS1120-Q1 尊敬的团队：
我的客户正在其系统中评估 ADS1120-Q1。 在抗扰度测试中、他们发现 ADS1120-Q1的内部温度传感器值发生变化、变化范围约为1°C 至2°C、曝光频率超过400MHz。 目前，改革方向只在上升的方向上得到确认，但不能确定。
他们假设 ADS1120-Q1的内部温度传感器是半导体(二极管？) ，如果受到高频辐照的影响，是否可以在电路中采取措施？
此外、如果存在温度变化机制等已知事件、请告知我。
谢谢你。
此致、
Koshi Ninomiya
