This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] ADS1158:ADS1158斩波特性问题

Guru**** 2382540 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1158
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/904559/ads1158-ads1158-chopping-feature-questions

器件型号:ADS1158

我们目前在设计中使用 ADS1158、但我们不使用斩波功能、我想知道我们是否应该这么做。 我知道它会消除外部偏移、但代价是降低采样率、但我想知道这一功能在什么情况下会有用。 真正的折衷是什么?  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    ADS1158通常用于测量系统(绝对 V/I、RTD、TC 等)、斩波有两种类型 第一个是内部斩波、它在取平均值的同时来回切换或削减调制器的输入。  由于偏移值应该相同、但在与斩波发生相反的极性中、当对测量值取平均值时、偏移会被消除。  这是启用"斩波"时在 ADS1158中发生的斩波类型。  有关更多详细信息、请参阅数据表第16页的"调制器"部分。  优点是初始输入失调电压降至单个 LSB 值、并且温度漂移得到有效消除(如图5所示)。 禁用 CHOP 后、与失调电压相关的漂移可能会导致数百 uV 的输入失调电压、这将直接导致测量中的失调电压误差。  实现斩波的缺点是吞吐量会稍微降低、正如您所注意到的。

    第二种类型的斩波在系统级外部发生、目标是去除 ADC 之前传感器和输入电路的偏移。  这在电阻式电桥压力、应变、称重传感器以及有时是 RTD 中很常见。  目标是去除内部 ADC 斩波无法校正的传感器和传感器偏置偏移。  这在数据表的外部斩波部分中进行了详细说明、见第21页。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您的解释。 这很有帮助。 那么、是否会使用该斩波功能代替偏移内部测量、或者它们是否对二者有利?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    即使 CHOP 打开、偏移电压也不是0、因此如果您有兴趣了解剩余的偏移量、除了 CHOP 之外、它还可以定期使用、但可能不需要。

    如果 CHOP 未开启、则该偏移测量将确认系统中的主机处理器可以从 ADC 测量中移除的电流偏移。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    非常好。 非常感谢。