您好!
我正在评估 ADS131M04、发现内部测试信号令人困惑。 规范中描述了8.3.9、它们"对故障排除和诊断很有用"。 它是否专为增益校准而设计?
我在以下步骤中测试了一个芯片:
‰我们的精密电源连接+/- 1.100V、ADC 的读数约为0x755a10和0x8aa600、因此我可以假设增益误差低于0.1 μ V、这比我们的电源更精确。
2.测量 MUXn[1:0]= 10和11、"正直流测试信号"和"负直流测试信号"的通道。
结果大约为0x105e70 ~ 0x106120、在通道之间变化。 这大约为0.128 Vref、与"标称值2/15×VREF"的值相差4%。
图 a.正/负测试信号的原始测量值。 一种颜色的相同信道。
我的问题是关于这个比率:
它有多稳定? 我的意思是温度、老化...如果它足够稳定、我可以将它用作校准源。
2.芯片、批次之间的误差偏差如何? 这将影响我们校准整个系统的方式。
此致、
Zhe