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由于每个通道都有一个奇数和偶数的采样器、因此我在 Fs/2处看到很大的杂散。 似乎每个直流偏移都略有不同。 我可以在 FFT 之前使用以下代码来删除后处理中的 Fs/2杂散
iDATA[0::2]= iDATA[0:2]-NP.Mean (iDATA[0:2]) (删除偶数数据上的偏移量)
iDATA[1::2]= iDATA[1:2]-NP.Mean (iDATA[1:2])(移除奇数数据上的偏移量)
然后、iDATA 的 FFT 按预期工作、并且没有 Fs/2杂散。
我希望能够去除 ADC 中的偏移、但在数据表的第61页中、它显示了这一点
"这两个寄存器控制在寄存器映射部分重复、并由于相同的偏移量而被指示为 OFFSET_CHX 控制
必须从奇数和偶数数据流中减去。"
在数据表的第131页上、OFFSET_CH1有两个寄存器、但它说要从这两个寄存器中输入相同的值。
是否有办法单独校正奇数和偶数的偏移?
实际上、我认为它是交错采样、因为该 ADC 每个通道具有奇数和偶数电路采样器。 数据表第59页。
此主题类似
TI 论坛上也有其他内容、但我想对我的特定芯片进行更正。 奇数和偶数样本具有不同的直流偏移、这会导致 Fs/2处的毛刺。 我可以在后处理中将其删除、但 ADC 似乎应该具有此功能。 数据表提示它确实如此、但也指出奇数和偶数偏移校正需要相同、因此我对如何实现它感到困惑。