[参考译文] ADS54J66EVM：ADS54J66 ADC 测试模式特殊行为。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/789805/ads54j66evm-ads54j66-adc-test-mode-peculiar-behaviour

您好！

我正在使用 ADS54J66评估板进行 JESD 接口评估、该评估板使用 ADS54J66 ADC 提供的测试模式启动。 下面提供的数据表链接：

 http://www.ti.com/lit/ds/symlink/ads54j66.pdf。

我已通过将 ADS54J66评估板与 Xilinx KC705评估板连接来进行设置、并且使用 JESD 协议并使用 FMC 连接器发送 ADC 数据。

在 KC705评估板中、添加了 JESD 接收器内核和 AXI 流 FIFO、并向芯片范围添加了流信号、并使用芯片范围观察到 AXI 流总线上的数据输出、以下是在宽度为128的 AXI 流总线上观察到的数据。

在数据表中、第53页提到 ADC 芯片可以生成不同的测试模式、但无法生成数据表中提到的所有测试模式。 比如

ADC 页(0Fh)、寄存器74h.(7：4)

0000 =使用 ADC 输出数据的正常运行-未给出 ADC 输入的随机数据。

0001 =输出全部0 - 无法生成。(0000000000000000000000000000000000000000)

0010 =全部输出1s -无法生成。(0000000000000000000000000000000000000000)

0011 =输出切换模式：输出数据 是1010101010和0101010101的交替序列-能够生成(aa565555aa5655aa5aa5aa5655aa5a5655aa5aa5a5a5a5a5aaa)

0100 =输出数字斜坡：从 代码0到16384的每个时钟周期、输出数据增加一个 LSB -能够生成

0110 =单图形：输出数据是自定义图形1 (75h 和76h)  -无法生成。(00000000000000000000000000000000)

0111 =双模式：自定义模式1和自定义模式2之间的输出数据交替- 能够生成(但无法在两个自定义模式都设置为全零或全为零时生成)。

1000 =校直图形：输出数据为2AAAh -能够生成(a8aea8aea8aea8aea8aea8aea8aea8aea8aea8aea8aea8aea8ae)

1001 =同步模式：输出数据为3FFFh  -无法生成。(00000000000000000000000000000000000000000000)

有没有人能解释这种特殊观察的原因。

提前感谢。