您好!
我打算使用 ADS1262的内部 TDAC、该 TDAC 的输出会连接到 AIN6、AIN7并形成单位增益缓冲器。
TDAC 值的稳定时间是多少? 在启用斩波模式时、我能否在 AIN6、AIN7上看到 TDAC 输出?
有没有办法使 TDAC 以2.5V 内部基准而非 AVCC-AVSS 运行?
感谢你的帮助
1月
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您好、Jan、
ADS1262内部的 TDAC 是 AVDD 和 AVSS 电源之间的电阻分压器。 遗憾的是、它必须始终由5个电源供电。
TDAC 的稳定时间将取决于电压输出(随着 TDAC 的输出阻抗随输出而变化)以及它必须充电的任何容性负载。 TDAC 的输出阻抗范围为大约3k Ω 至25k Ω。
您应该能够使用 ADC 测量 TDAC 电压(斩波或断开)。 在 INPMUX 寄存器中、无论是否在 AIN6/7上启用 TDAC 输出、都可以直接连接到 TDAC 输出。
请注意、内部 TDAC 是一种粗调 DAC、主要用于在器件的整个输入范围内运行 PGA + ADC。 它不是具有高精度规格的精密 DAC。 如果您确实打算将其与其他外部电路配合使用、则可能需要对其进行缓冲。
尊敬的 Chris:
感谢您的回答。 要详细描述我的想法、请参阅随附的原理图(为清晰起见、已添加滤波器)
我需要以可能的最高分辨率(微开尔文)测量温度20-30°C 我的目的是使用3个固定电阻器和一个 NTC 热敏电阻构建电桥。
为了摆脱寄生热电偶、我希望使用 http://www.ti.com/tool/TIPD188中建议的交流激励。 我希望能够用激励电桥
用于评估热敏电阻自热效应的不同电压。 我要将 TDAC1设置为4V、将 TDAC2设置为1V、执行几次测量、然后我进行反向
将 TDAC1更改为1V、将 TDAC2更改为4V、然后执行另外几次测量。 我可以使用不同的 TDAC 电平来了解如何操作
改变热敏电阻的自发热。 电压的相位设置对此是可以的。 大约1ms 的稳定时间是可以的。 您认为这可以起作用吗?
但是、可能会发生这样的情况:我只想测试直流激励。 在本例中、我将使用斩波模式来消除 ADC 的内部偏移。
在这种情况下、TDAC 是否会在 AIN6和 AIN7上生成输出电压? 我的担忧 是 ADS1262手册第53页的句子"请注意、斩波模式
以使用 TDAC 测试 ADC。" 请阐明斩波模式下的 TDAC 会发生什么情况。
感谢您的评论
1月
您好、Jan、
我很抱歉耽误您的回答。
我研究了警告不要在 TDAC 中使用 CHOP 的原因、发现这仅适用于使用多路复用器直接连接到 TDAC (即将 INPMUX 寄存器值设置为0xEE)的情况。
在本例中、您将 TDAC 输出通过 AIN6/7进行路由、缓冲该电压、 然后通过不同的输入引脚对其进行测量、可以使用斩波模式来测量电桥输出电压...是的、通过设置 TACP 和 TDAWN 寄存器中的 OUTP 和 OUTN 位、TDAC 输出电压连接到 AIN6和 AIN7引脚。
我看不到您所描述的使用 TDAC 的任何问题、尤其是因为该电压是缓冲的、您是以比例方式测量电桥、这使得测量对 TDAC 噪声的敏感度降低。 如果确实使用交流激励、则需要确保在切换激励电压极性后开始下一次 ADC 转换之前、TDAC 完全稳定(包括桥式输出或 ADC 基准输入上的任何附加 RC 滤波器)。