[参考译文] DAC7750：器件在测试过程中损坏、从电源到接地的电阻较低

您好、Christopher、

我的同事将于周一返回给您。

谢谢、
Paul

您好、Christopher、

我有几个问题可以更好地理解这个问题：

1.您能否提供原理图供审核？
2.您正在进行何种测试、器件在哪个点发生故障？
3.您能在上电时提供 AVDD/DVDD 的示波器捕获吗？ 这可能与加电相关、例如快速 AVDD 开启。

谢谢、
Garrett

请注意、输入来自光隔离、由30个电源提供的5V 电源供电。 我们对电路中允许的电容量有一定的限制、这与我们遵守的某些标准相关、这解释了小功率滤波值。 请注意器件引脚与接口连接器的直接连接。

我们所做的测试是将1K 欧姆的输出接地、并在通过 SPI 发送命令时检查电压以确认电流电平。 性能一直没有问题、直到器件发生故障、这在随后的一些上电时可见、并且电源由于过流而限制输出。

我将很快捕获电源上升范围图像。

您好、Christopher、

这是在 VDD_CUR_LOOP 测量的吗？ 由于旁路电容器很小、我希望斜坡更快、但这可能是由于使用了电源。

电容器 C88和 C89小于我的建议值、当输出切换时、可能会导致 AVDD/DVDD 上出现瞬态。 不过，我不能肯定这是失败的原因。

是否在启用输出的情况下连接/断开负载电阻器？

是的、这是在 VDD_CUR_LOOP 和 GND_CLP 之间测得的。 加电速度相当慢、因为这是工作台电源的行为。

我们没有在启用输出的情况下连接和断开负载电阻器。 当发现故障时、它已通电。

您好、Christopher、

那么、该故障只会发生在循环通电上电时、不会启用 DAC7750输出？ 如果您能够可靠地重现故障、我建议将 C88和 C89更改为更大的电容值。 可能需要为每个器件添加一个1uF 的并联电容、然后重复测试、以查看故障是否仍然发生。 我意识到您有意限制电容。 您的原理图非常简单、因此我不知道还有什么问题。

谢谢、
Garrett

下周、我们将向未损坏的电路板添加一些瞬态抑制器(如 DAC7750评估板中的抑制器)

并查看它是否能够持续运行并在不发生故障的情况下进行循环通电。

您好、Christopher、

明白了、让我知道结果。

谢谢、
Garrett

我们在 AVDD 和接地之间以及 IOUT 和接地之间放置了瞬态电压抑制器(ST 微电子器件型号 SMBJ30A-TR)。

我们对五个电路板进行了此操作、并对它们进行了彻底测试。 到目前为止、DAC7750还没有损坏。 我们似乎有一个解决方案。

如果 TVS 元件已经解决了我们的问题、可能是由于 ESD 事件、或者是我们不知道的电源行为错误。

对第六块电路板进行了相同的修改、然后我们无意中将30V 电源热连接到电路。 尽管存在 TVS 器件、但这会损坏 DAC7750。

是否已知 DAC7750会受到高 dV/dt 的损坏？ 它是否与没有滤波电容器来缓冲 AVDD dV/dt 的"热插拔"情况不兼容？