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[参考译文] ADS7049-Q1:ADS7049-Q1

Guru**** 1125150 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS7049-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1170794/ads7049-q1-ads7049-q1

器件型号:ADS7049-Q1

J’ai une question technique sur l’ADC r é frence ADS7049-Q1 de Texas Instruments,qui est la suivante:

在 ADC 上的推杆式球架机使吕孝端对子总线 SPI 命令感到羡慕?

使用条件不包括以下事项:

1 μ°)收购:

  • Nombre d’acquisition = 8 de dur é e de 16μs è re chacune (soit une une une dur é e totale d’acquisition de 128μs è re)
  • 收购: toute les 25ms
  • 芯片选择(/CS):
    • à L’tol 0吊装 L’acquisition (128μs)
    • à 1个手控盒 le reste du temps (24、872ms)

2 μ°)扰动:
Les 3 signaux du bus SPI (SCLK、/CS et SDO) peuvent être perturt é s pendre du d é marrage du convertisseur de puissance

  • Si 命令 du μP =0 =>信号 VU PAR l’ADC peut padse à 1个线控器 LA 扰动(dur é e = 50ns)
  • SI μP = 1 =>信号 VU PAR l’ADC peut padse à 0 pol la 扰动(dur é e = 1μs)

是否为 après 的扰动? 是否需要采集 prochaine (qui arrivera 25ms 加 tard) sera 校正器?
是否存在对等的问题、是否存在对等问题的敏感张力?

Cordialement、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    塞尔

    我使用谷歌翻译将您的问题转换为英语。  我相信我明白这个问题的要点。  ads7049-Q1唯一可能发生的损坏是偏移校准寄存器。  通常、在上电期间、偏移校准寄存器被设定为零。  如果在上电期间发生了一些损坏偏移校准寄存器的异常事件、您可以执行"正常运行期间的偏移校准"。    您可以通过在 CS 处于低电平的情况下对 SCLK 计时32次来校准偏移。  除了偏移寄存器、不应出现其他问题、因为器件是"只读"的、唯一的易失性"寄存器"是偏移校准。

    我希望这对我们有所帮助、并且 Google Translate 能够发挥作用。   

    艺术  

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    Kay 先生、您好!

     

    在我们的应用中:

    • 我们在每次上电后进行校准
    • 我们可以测试校准(通过测量基准电压)
      • 如果校准测试正常=>我们启动采集
      • 如果校准测试为 NOK =>我们将根据您的建议重做校准、直到校准测试变为 OK

     

    然后在我们的应用中:

    • 糟糕的瞬态采集不是问题(因为我们对测量进行了滤波)
    • 但是、长期购买不当会令人尴尬

    您能否确认对/CS 和 SCLK 信号的扰动(EMC 干扰)没有引发 ADC 基准 ADS7049-Q1永久故障的风险?

     

    此致

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    塞尔

    我们尚未对该器件进行任何 EMC 测试。  我们在使用类似器件方面的经验是、在抗辐射干扰测试期间、器件可能会暂时丧失性能、并在之后恢复正常运行。  在某些情况下、该器件将在抗扰度测试期间保持运行。   以下是在 ADC https://www.ti.com/lit/an/sbaa548a/sbaa548a.pdf 上完成的 EMC 测试的链接。  我真的不能评论这个特定器件的永久故障、因为我们尚未对它进行测试。  即使我们测试了该器件、PCB 布局和支持组件也会影响 EMC 测试结果、因此我们建议您测试系统。  此外、它还取决于 EMC 测试(辐射抗扰度、EFT 和浪涌)以及器件的测试级别。  不过、如果您的问题是数字接口上的辐射抗扰度、我不会期望这会导致器件永久故障。   

    艺术

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    谢谢