您好！
我们的客户正在使用两个 ADS1255开发分析仪器。
XTAL 用于主 ADC、CLKOUT 输出从主 ADC 连接到子 ADC。
但是、当时钟输出打开时、XTAL 振荡和两个 ADC 转换结果异常。
输入短路时的变化：0.001V -> 0.1V
我认为 PCB 布局可能是一个问题。 使用的器件如下所示。
XTAL：CX5032GA08000HOHEQ Kyocera
C：15pF
有 问题。
可以理解、由于这种影响、子 ADC 的转换结果变得更糟。 为什么主 ADC 的转换结果也异常？
客户表示 XTAL 的振荡将异常。 这是不正确的吗？
两个 ADC 是否以时钟的形式共享 CLKOUT？
如果是、您可以了解两个 ADC 的转换结果异常。
请告诉我原因和措施。
此致、
Hiroshi
尊敬的 Chris：
感谢你的答复。
我将检查 GND 层。
#客户表示 XTAL 的振荡将异常。
-->不稳定的频率不仅仅是 CLKOUT。 但 我认为很难测量。 它们的测量方法可能不正确。
#两个 ADC 是否以时钟的形式共享 CLKOUT？
-->我的问题是两个 ADC 时钟是否基本相同。
示例 a) 基本相同的时钟。
示例 b)缓冲器时钟输出->缓冲输入
我认为这种配置是 a)。 由于共享时钟时、两个 ADC 的结果异常。
在 B 的情况下、我认为只有子 ADC 是异常的。
客户怀疑设备出现故障。 我想准确地告诉这种情况。
此致、
Hiroshi
Hiroshi-San、您好、
感谢您发布原理图！
从原理图的角度来看、我没有发现任何问题...
在布局中、PA06和 PA07跳线与 ADC 的接近程度如何？ 通常、我不建议将模拟接地和数字接地分开；但是、如果这些连接保持较短且非常靠近 IC、则可能不会出现问题。
关于您之前关于 CLKIN 和 CLKOUT 之间关系的问题...
我相信 CLKIN 输入上的信号被缓冲(可能由一个比较器)并且在 CLKOUT 引脚上输出。 因此、对于两个 ADC、时钟是相似的、但它们在两个方面存在差异：
通过探测 ADS1256EVM 上的 CLKIN 和 CLKOUT 信号、捕获了以下示波器屏幕截图：
由于 CLKOUT 信号被转换为方波、它将包含更高的频率成分、并且可能对 PCB 接地层造成更大的破坏。 我建议增大电路板上 R96的尺寸(可能尝试100欧姆)、以减缓 CLKOUT 的上升沿和下降沿、并查看它是否有助于提高噪声性能。
此致、
Chris
您好 Chris
将电阻更改为100欧姆可以解决该问题。
非常感谢您的支持。
#零欧姆
100欧姆
他们担心、由于器件的可变性、问题是否会再次出现。
我想解释电阻值的有效性(或提供更好的电阻值)并解决这个问题。
我知道 ADS1255的 CLKOUT 输出阻抗的变化是导致这个问题的原因。
ADS1255 Ω 阻抗：约10k Ω
Ω PCB 线：约20至100 μ m
#当 PCB 线变得粗短时、阻抗接近 ADS1255。
#这是一个“启动问题” 。 如果它正常启动、则在运行期间不会发生。
我计划这样解释、但您是否有更好的建议？ 并指出我的误解。
此致、
Hiroshi
