在我们的板上、我们使用 ADS1274在最多4个通道上进行数据采集。 不过、我们看到与增益相关的问题。
当我们在1个通道处于活动状态时提供10kHz 输入信号时、我们会在从30kHz 到120kHz 的采样频率范围内看到恒定的电平/增益。
但是、当我们在一个通道上提供相同的输入通道、但现在所有4个通道都处于活动状态时、当采样频率高于70kHz 时、我们会看到增益增加(请参阅表)
记录信号的采样频率振幅(相对)
40K 1.00
50K 1.00
60k 1.00
70k 1.00
75k 1.03
80k 1.06
90k 1.13
10万 1.20美元
120k 1.34
dit 是否为已知问题？ 这样做的原因可能是什么？ 这可以避免和/或补偿吗？
ADS1274始终处于高速模式。
格式为011
CLK 取决于所选的采样频率：256*fsam
我正在计算信号的 RMS 值以比较记录的信号电平。
在下面的3个记录中、施加了相同的输入信号(正弦波为10k)
精确的采样频率为 40178.6Hz 和 120535.7Hz。
在40k 时记录的信号(1和4个通道处于活动状态时相同)
120k 时的信号记录器、1个通道处于活动状态：
在120k 时记录的信号、4个通道处于活动状态：
尊敬的 Marc：
请原谅我的延迟。
首先、在通道1上以40KSPS 采样的10kHz 正弦波的独特形状可能是欠采样的结果。 尽管您满足奈奎斯特标准 fs > 2x fin、但原始输入的振幅可能无法以每周期仅4个样本的形式准确表示。
我认为信号振幅的变化可能是基准电压输入上输入阻抗的变化所致。 您的外部基准电路直接连接到数据表图71中所示的内部开关电容器采样结构。 随着主 CLK 频率的增加以及有源通道的数量的增加、有效输入阻抗将减少。 如果您的外部驱动电路未能充分保持恒定基准电压、ADC 传递函数中的增益误差项将会更糟。
对于一个有源通道@ 40KSPS：ZEff = 13.65k 欧姆
对于四个有源通道@ 40KSPS：ZEff = 3.41k 欧姆
对于一个有源通道@ 120kSPS：ZEff = 4.55k 欧姆
对于四个有源通道@ 120kSPS：ZEff = 1.14k 欧姆
您可以将 ADS1274电路的原理图与输入和基准驱动电路共享吗？ 如果您希望离线发送给我、我可以通过您的个人资料中的电子邮件地址与您联系。
此致、
