[参考译文] ADS1212：自校准命令导致两个不同的输出模式150-200计数分离

[引用用户="Chris Harthan "]

器件型号： ADS1212

这里是图像...

看起来、可能是校正算法中的一个寄存器正在回滚。 自校准期间生成的偏移项和增益项位于 CONTINUM 上、但 A/D 输出是双稳态的。 我得到 X 作为输出或 X+150。 切勿在两者之间进行任何操作。 这会一直持续到运行另一个自校准。 我有很多器件来实现这一目的。

配置寄存器设置为十六进制42085457。

输入为1.07V

这是500个自校准周期中每个周期的一个 A/D 读数...

这些是相应的自校准增益项...

以下是来自正常部件的数据....

这些结果是非常可重复的。

我的系统噪声通常约为30-40个计数。 这是一个四小时的测试、因此存在一些热漂移。 我对此并不关心。

如果有任何见解，将不胜感激。

谢谢、

Chris

[/报价]

尊敬的 Chris：

由于自校准有两个方面、可能需要进行更多的调查来缩小范围。 第一个操作是偏移校准、第二个操作是增益校准。 增益校准的结果将与偏移校准直接相关。 增益校准将与基准相关、因此最好验证基准的稳定性、以确保基准不会振荡。

还可以发布系统校准、以查看校准之间是否存在很大差异。

您可以研究的另一件事是向偏移和满量程寄存器写入和读取各种值。 如果有一个卡住的位、这将位于校准寄存器的 LSB 中。

此致、
Bob B

尊敬的 Bob：

感谢您的回复。

我已经检查了一些参考、它们是稳定的。 我没有为内部基准加载负载、并且有推荐的旁路电容器。

以下是运行500个自校准周期的16个器件的一些统计数据...

如果您愿意、我可以向您发送 Excel 文件中的所有数据。

许多偏移量都达到255。 它的范围是多少？ 如果增益项和偏移项相关、且偏移量会偏离标度、这可能会导致增益项出现问题。 (我不知道芯片是如何工作的、所以我只是在做 spitballing。) 两人的完美力量似乎总是可疑的。

我与我的软件人员交谈。 他已经具有读取和写入这些寄存器的函数、因此我们可以在明天对校准寄存器执行一个步进位测试。

谢谢、

Chris

编辑：

让我感到困惑的一点是、自校准增益项在中间没有像 A/D 读数那样的大间隙。 如果寄存器有一个卡住的位、增益项中是否不会有间隙？

尊敬的 Chris：

实际上有3个偏移寄存器(24位)和3个满量程校准寄存器(24位)。 我通常不会期望偏移寄存器会有很大的变化、因为该增量应该在噪声级别内。 如果您有容量、最好查看偏移和满量程校准寄存器的全部三个寄存器。

此致、
Bob B