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[参考译文] ADS1298R:输入阻抗认证测试问题

Guru**** 1129500 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1298R, TINA-TI, ADS1298RECGFE-PDK, ADS1298
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/693255/ads1298r-input-impedance-certification-test-issue

器件型号:ADS1298R
主题中讨论的其他器件: TINA-TIADS1298

你好。 我们有一个带 ADS1298R 的 ECG 器件。 我们需要通过 IEC_60601-2-27、 根据子条款201.12.1.101.3、我们有一些疑问。 它与输入阻抗测量有关。 该测试用于将一个并联 RC 网络620k || 4.7nF 与经测试的电极串联。  

想法是比较具有和不具有串联阻抗的电压电平。 差值必须小于20%才能通过测试。 测试信号为正弦信号、频率为0.67Hz 和40Hz。

0.67Hz 时、压降不大、我们 显然通过了测试。 40Hz 时、压降约为12%。 因此、我们也可以通过测试。

但我想知道的是-为什么我们在更高的频率上会有这个压降?

我们的输入电路包括简单的 RC 滤波器10Kohm || 680pF。 我们还在 ECG 电缆中串联了一个10千欧姆的保护。 有一个 TVS 二极管并联、但它的电容非常小-只有几 pF。  

因此、通常测试期间的输入电路包含640kOhm 的总电阻和700pF 的电容。 这是一个极点350Hz 的滤波器。 对于40Hz 的频率、 幅值应减小0.058dB、或幅度减小约1%。  

但在我的实验中、我看到40Hz 上的下降率大约为10-12%。 压降显然取决于频率。 在1Hz 时、我们没有下降、在10Hz 时可见、在40Hz 时为10-12%、在100Hz 时、它真的很重要。 由于我的简单计算、这等于大约3nF 的并联电容、我的原理图中没有这种并联电容。

我们使用主动右腿驱动。 为了排除 RLD 的影响、我要将 RLD_SENSP 和 RLD_SENSN 寄存器设置为0x00。 这应消除频率反向环路、RLD 放大器的工作方式与电压跟随 器类似。我们将其用于电源中间的体极化。 但我们仍然有同样的问题- 40Hz 下降了10-12%。

我们在软件中有一个50Hz 上的二阶陷波滤波器。 但它在两种情况下都能工作-有无620k 连接。 测试是相对的、因此通常50Hz 的陷波不应影响测试结果。 无论如何-我尝试关闭50Hz 滤波器。 在这种情况下、噪声会更大、但40Hz 的降低再次明显可见。

那么、我的问题是-当将620k Ω 串联时、在40Hz 上会引起这种压降、还有什么呢?

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    Tsvetan、您好!

    感谢您的发帖!

    您能否共享 ADS1298R 输入级的原理图? 更容易查看从电极到每个通道输入引脚的信号路径中的无源组件。

    此外、您要为 ADS1298R 使用哪些寄存器设置? 请以十六进制格式提供所有设置以供查看。 具体而言、我对数据速率很好奇。 您可能会看到数字滤波器出现一些额外的衰减。 例如、在数据速率= 250SPS 时、40Hz 对应于图53中的0.16 = fin / fdata。 在 这种情况下、数字滤波器会将40Hz 信号衰减约-1.15dB 或12.4%。

    使用 TINA-TI 模型来仿真 ADS1298R 输入端的预期信号振幅可能会有所帮助。 尝试使用原理图中的组件修改随附的 TINA 原理图、以验证预期衰减应为多少(目前、忽略 TVS 二极管)。 如果您将原理图发送给我、我也可以将其添加到仿真中。

    e2e.ti.com/.../IEC_5F00_input_5F00_impedance.TSC

    此致、

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    你好。 这是我们器件的输入级。 请考虑、我们在每个电极引线中都有额外的10k 保护电阻器、原理图中未显示。 输入滤波器电容为390pF。 在我的第一篇帖子中、我错误地将其更正为680pF、抱歉。

    我们使用1kHz 采样率、高分辨率模式、增益6。 ADS1298R 寄存器设置如下:

    const uint8_t g_DefaultADS1298Registers[ADS129XX_REG_ENUM]=

    0x00、
    0xC5、      /* HR =开、DAYSI =关、CLK_EN = 0FF、DR = 1000SPS */
    0x10、      /* WCT_CHOP = var,TEST = INT,TEST_AMP =-(VREFP - VREFN)/2400V,TEST_FREQ = Fclk/2^21 */
    0xCC、     /* REF_Buff = ON、VREFP = 2.4V、RLD_MEAS = OFF、RLDREF =(AVDD-AVSS)/2、RLD_Buff = ON、RLD_LOFF_SENSE = OFF */
    0x03、      /* COMP_TH = 95%、电流源导联脱落检测、I = 6nA、直流导联脱落检测*
    0x00、      /* CH1 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH2 = ON、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH3 = ON、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH4 = on、gain = 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH5 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH6 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH7 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH8 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* RLD -像使用电压折页机一样使用它*/
    0x00、      /**//
    0xFF、      对于所有通道、/* LOFF_SENSP = ON *
    0x06、     /* LOFF_SENSN -仅 RA */
    0x00、     对于所有通道、/* LOFF_FLIP =关闭*
    0x00、     /**//
    0x00、     /**//
    0x00、     /*所有 GPIO -零输出*/
    0x00、     /*步速跑*/
    0x20、     /*呼吸关闭*/
    0x02、     /* SINGLE_SHOT =关闭、WCT_TO_RLD =关闭、LEAD_OFF_COMP =打开*/
    0x0B、     /* WCTA = RA */
    0xD4     /* WCTB = LA、WCTC = LL*/
    };

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    尊敬的 Tsvetan:

    感谢您添加了详细信息。

    我仍然看不到40Hz 正弦波衰减这么大的原因。 您测量的是哪些通道上的衰减、是否是所有通道上的衰减? 与胸部电极(V1 - V6)相比、连接初级电极(RA、LA 和 LL)时衰减是否相同?

    您现在还可以尝试禁用导联脱落电流源和比较器、以消除可能的原因。 我不希望这会产生影响。

    此致、

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    你好、Ryan。

    我正在测量电路板上所有通道(I、II、V1-V6)上的此类衰减(10-12%)。 我们使用 Whailteq SECG 4.0来生成信号。

    无论如何、为了排除器件的问题、我使用 ADS1298R ECGFE 开发套件进行了一些实验。 在这些实验中、我看到的结果大致相同:

     1. ECG 电缆上的输入幅值(具有10K 保护) 8mVpp。

    2. ECGFE 输入链未更改-即二阶 RC 滤波器22K || 47pF 和10K || 47pf。

    3、RA 经过测试、测量通道为2。

    当620K 串联电阻短路时、我们测量的值约为7.9mVpp。 请参阅附加的图片。

    4.当620K || 4.7nF 被连接时、我们测量的值大约为7.15mVpp。 请参阅缓存的图片。

    5.所有实验均通过电池供电系统进行,以抑制50/60Hz 电源的影响。

    因此、这里具有大约10%的衰减。 在开发板上、测量其他通道时存在轻微差异。 衰减在8%和10%之间变化。 RA 中的电压较高、V1-V6中的电压较低。

    我将向您发送一张包含寄存器集的图片。 如您所见、我们使用由 RA、LA 和 LL 组成的 WCT。 RLD 仅在 Vsupply/2上极化。 RLD 形成中没有导联。

    我再做了一个实验。 当 RLD 由一组电极(RA、LA... LL)、在不同通道中、在620K 串联下40Hz 上测得的振幅会有所不同。 它会根据用于 RLD 形成的电极而上下移动。 但这是正常的。 由于输入中存在620K、放大器 CMR 变得疯狂。 RLD 放大器也取决于频率。 因此、当我们通过 RLD 返回一部分信号时、振幅也会发生变化。  

    这就是为什么我认为对于清晰的实验、RLD 返回路径必须仅限于体极化至 Vsupply/2。 在本例中、我们的开发套件的衰减仍约为8-10%。

    我在100Hz 输入频率和2000Hz 采样率下进行了测试、振幅降低了约25%。

    因此、我的问题仍然没有得到解答-为什么与输入串联的620k 会在40Hz 上使输入信号衰减得太多、在100Hz 上衰减得更多。 我目前所知道的是-该问题会在开发套件中重现、因此与我们的器件无关。

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    Tsvetan、您好!

    再次感谢您提供的详细结果-我认为这些实验让问题变得更加清晰。

    我的最后一个想法是使用示波器验证两个频率下的输入信号振幅。 您应该能够探测测试通道输入端的电容器、以验证 PGA 将看到的振幅(即测试 RA 时的探针 C162)。

    我将尝试在工作台上使用 EVM 运行相同的实验。 不幸的是,我将在下周之前离开办公室。 如果可能、我会要求我的一位同事在我离开时为我重复实验。

    此致、
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    你好、Ryan。

    我会尝试、但我担心无法使用示波器精确测量电压。 信号的振幅很低。 更糟糕的是、连接示波器接地会引入大量50/60Hz 噪声、这使得无法进行精确测量。 由于我在 ECG 信号方面的经验-它需要一个非常昂贵的设备来进行此类测量、实际上我没有。

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    Tsvetan、您好!

    请原谅延迟。

    我能够使用相同的 ADS1298RECGFE-PDK 在我们的工作台上重复测量。 第一步、我只使用简单的导线将 DB15连接器的每个电极输入连接到试验电路板、并在此处重新创建了输入阻抗测试设置。 除 RA 外的所有电极都短接在一起。 EVM 的 RLD 输出通过51k || 47nF 的 RC 网络(根据测试设置)。 51k || 47nF 网络的输出短接至电极以及信号发生器的负极侧。 信号发生器设置为8Vpp、偏移为0V。我将频率从10Hz 扫描到100Hz、从未看到过明显的振幅变化(始终接近8mVpp)。

    我在设置中必须做出的一个区别是、我为通道2 (RA 和 LA)启用了 RLD_SENS 位。 这有助于我抑制系统中的60Hz 噪声、并在峰峰值信号输出中获得更一致的读数。

    本周我可能有更多的时间使用真正的 ECG 电缆重复测试、每个电极线中具有10k - 22k 的串联阻抗。 我感觉额外的衰减来自一些无源滤波器、因为在较高的频率下更明显。


    此致、

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    你好、Ryan。

    我正在等待您的结果、因为您有一些结果。

    但请注意-连接由反馈中给定电极组形成的正确 LEG 会显著改变测试台。 当您将620K 串联一个输入时、这使得输入 PGA 的共模抑制下降到极低。 在这种情况下、RLD 反馈也对40Hz 频谱具有很大影响。 这会改变总电路原理图增益。 我在我的测试台上看到了它-输出幅值与 RLD 反馈中使用的电极组的精确值相差很大。

    这就是我使用仅在 VDD/2上偏置的 RLD 的原因。 反馈中未返回电极路径。 为了降低噪声(在本例中很重要)、我将使用电池为我的所有设备供电。 我还使用接地表。

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    明白。 我将在今天下午公布一些结果。

    此致、
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    尊敬的 Tsvetan:

    请参见下面的图片。

    也许值得注意的是、当输入频率从10Hz 增加到40Hz 到100Hz 时、我的结果中记录的 S2打开的振幅会略微减小。 从8.22mVpp 到7.83mVpp 的总变化是大约4.7%或-0.42dB 的衰减。 当 S2打开时、这种衰减可能会恶化;但是、在我的设置中、很难分辨。 我相信附加的60Hz 噪声会掩盖输入正弦波的真实振幅。 随附的结果显示、当 S2针对每个测试频率打开时、峰峰值振幅会增加。 得到的示波器图清楚地显示了60Hz 噪声波形中的一些额外失真。 因此、我想目前为止、S2打开时、我能够收集的结果仍然没有结果。

    有一点需要澄清:ADS1298R 中的 PGA 实际上不会对信号链的共模抑制产生任何影响。 相反、 当从 PGAxP 中减去 PGAxN 时、所有共模抑制都发生在调制器采样阶段(暂时忽略 RLD 的影响)。 PGA 实际上由两个放大器组成、采用仪表放大器配置。 这就是我们如何通过 将每个单独的 PGA 放大器输出连接到 RLD 放大器反相输入处的求和结来感测 PGA 之后的共模。

    e2e.ti.com/.../IEC_5F00_Input-Impedance.zip

    此致、

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    你好、Ryan。

    1.您能否为您的上次实验指定 RLD 反馈的确切配置。 正如我之前所写的那样、在测量40Hz 或100Hz 并且连接620k (S2打开)时、将某些导联包括在右腿反馈中会显著改变振幅。 我已经尝试过各种反馈电极组合(LA+RA、LA+RA+LL 等)、即使其他条件没有改变、输出中的振幅也始终不同。 有时、我的振幅比源提供的振幅更高! 这意味着 RLD 反馈对总放大具有频率相关的影响、当 S2打开(连接620K)时、该影响大部分可见。 我的解释是共模抑制比、当输入不平衡620K 串行电阻时、该比率会发生显著变化。 因此、我认为在 RLD 反馈中不包含任何导联的情况下进行实验非常重要、只是明显的极化。 当然、由于本例中的60Hz 噪声较高、这会使实验变得复杂。  

    2.我同意您对共模抑制和 PGA 的解释。 但我正在全局查看该系统。 该器件在理想情况下具有一些 CMR。 但是、当系统的输入在其中一个差分输入中不平衡620k 时、CMS 会发生显著变化。 即使 CMR 来自仪器放大器(如传统 ECG 原理图)或 Σ-Δ 转换器的调制器(如 ADS1298)。 最终效果是一样的-当系统的输入不平衡时、CMR 会变得更糟。 我是对的吗?

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    Tsvetan、您好!

    用于 RLD 反馈的配置是在 ADS1298RECGFE-PDK 上设置位 RLD2P 和 RLD2N = 1。 这样选择了通道2上每个 PGA 的输出、从而使用 RA 和 LA 来导出共模。 我同意您的观点、即如果620k 与 RA 串联、则 RLD 反馈可能会导致振幅发生变化。 但是、如果没有它、我就无法获得足够干净的设置来消除60Hz 噪声、并且我在软件中没有使用示波器选项卡中的陷波滤波器对数据进行后处理的选项。 ECG Display (ECG 显示)选项卡显示陷波滤波器设置。 您可以分析导联 I 上的峰峰值振幅、以针对常见电极测量 RA。 遗憾的是、没有示波器分析表可以为您计算该信息。

    此致、

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    您好、Ryan、
    我现在面临着同样的问题、需要比较具有和不具有串联阻抗的电压电平。差值必须小于20%才能通过测试~
    频率介于0.1Hz 至100Hz,之间、0.1Hz 几乎没有压降、60Hz 压降变得显而易见、当频率为100Hz,时、压降超过20%截止频率为1kHz、我不知道原因、也不想知道如何解决该问题~
    期待您的帮助、非常感谢~
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    您好!
    我能否从该帖子中获得任何建议?
    或者、我需要创建一个新帖子来提出问题?
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    只要问题完全相同-我不认为新帖子会为您提供更多帮助。 因此、我们现在都有未解决的问题。

    一个问题-您写了"截止频率1kHz"-您使用此短语处理哪种滤波? 输入端模拟还是通过器件中实现的软件实现数字模拟?

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    您好、现在滤波器值与 TI 的参考设计~相同
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    你好、Fawn 和 Tsvetan、

    这对我们来说是一个很难调试的问题。 总之、我同意 Tsvetan 的观点、即信号源必须从 RLD 偏置、而不使用共模导出环路中的电极、原因如上所述。

    Tsvetan -您是否尝试使用不同的信号源? 我知道您可能没有另一个也可以像 Whaletiq 那样由电池供电的设备。 但这将有助于我们排除另一个变量。

    我可以在本周的实验中再次查看这一点、并比较 FFT 而不是"Scope"选项卡的结果。 希望这足够准确、能够确定输入频率下的信号幅度、以及可能存在的任何噪声。


    此致、
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    此外、请记住、无源 RC 滤波器和数字滤波器会产生一些衰减。 我已更新随附的 TINA 文件、其中包含 EVM 中的 R-C 值以及10k 电极电缆阻抗。 衰减从40Hz 时的~1.8%增加到100Hz 时的~8%。

    e2e.ti.com/.../_5B00_E2E_5D00_-IEC_5F00_input_5F00_impedance.TSC

    此致、

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    你好、Ryan。

    我将继续搜索另一个信号源、但正如您所写的那样、查找无噪声系统并不容易。

    我同意您在系统噪声滤波和相应衰减方面的看法、但这只是我们在实验(也是 FAWn)中看到的一小部分。

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    Ryan 和 Tsvetan、您好、
    此问题是否有任何解决方案?
    我可以放置一个运算电路来解决该问题吗?
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    你好,Fawn。

    否-目前我没有可靠的解决方案。 输入端的运算放大器可能会有所帮助、因为它会"切断"芯片的高输入阻抗。 但是这个解决方案(如果它起作用的话)有很多缺点-从技术上讲它太复杂-你需要很多运算放大器芯片。 同时、它必须是具有真正良好参数的运算放大器、与差动输入/输出完美搭配、这会耗费大量资金和布板空间。 此外、通过这种方法、您还可以松开集成在芯片中的导联脱落检测。 实际上、您正在失去 ADS1298的主要优势-解决方案的完整性。 我确信还有其他缺点、我现在找不到...

    要尝试的一个实验是对更高采样频率的测试。 将100Hz 上的衰减与1K、2K 甚至4K 的采样频率进行比较很有趣。 但我的器件没有足够的 CPU 和 SPI 电源来处理此类数据流量...

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    Tsvetan、您好!

    请查看随附的演示文稿、详细了解此主题的测试设置和结果。 如果您对此有任何疑问、请告诉我。 我希望这证明我们在理解和重现您的问题时已尽力做到尽职。 如果您可以针对相同条件(示波器和 FFT 图)提供类似的结果、可能会导致新信息。  

    e2e.ti.com/.../_5B00_E2E_5D00_-IEC--Input-Impedance-for-ADS129x.pptx

    此致、

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    你好、Ryan。

    请告诉我-您如何执行本演示的测试-是基于仿真还是使用 ADS1298开发板和正弦发生器进行真实测试?

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    尊敬的 Tsvetan:

    这是使用 Audio Precision (AP)信号发生器和 ADS1298RECGFE-PDK 记录的实际数据。 根据 IEC 测试设置、穿孔电阻器布置在试验电路板上。 AP 通过带夹子的香蕉插孔连接器连接到试验电路板电路。 EVM 的输入通过电线连接到 DB15连接器。

    此致、
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    你好、Ryan。

    您的结果看起来比我的结果好得多。 您能为我提供本实验中使用的 ADS1298寄存器组吗? 您还能告诉我哪个销售线索用于记录演示文稿中显示的数据。  

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    尊敬的 Tsvetan:

    寄存器设置位于幻灯片3上。 记录的数据来自 EVM 上的通道2、这是 LA (短接到 P2和所有其他电极)减去 RA (短接到 P1)的结果。 我更新了下面的演示以说明电极连接。 此外、在 TINA 原理图和仿真中、由于使用直接导线将测试设置连接到 EVM DB15连接器、因此我使"Rcable"为0欧姆。 这不会改变仿真结果。

    e2e.ti.com/.../1667._5B00_E2E_5D00_-IEC--Input-Impedance-for-ADS129x.pptx

    此致、

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    你好、Ryan。

    我已经验证了您的设置、它们涵盖了我的设置、但导联脱落检测除外。 在我的电路板上、通过6nA 直流电流检测在所有通道上启用该功能。 但这不会对测量产生显著影响、 对吧?

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    尊敬的 Tsvetan:

    我从6月5日开始使用您的帖子中描述的设置、如下所示。 我认为这不会产生影响、因为您使用以下设置得出的结果与使用5月28日设置的测试结果类似:  

    5月28日设置:

    const uint8_t g_DefaultADS1298Registers[ADS129XX_REG_ENUM]=

    0x00、
    0xC5、      /* HR =开、DAYSI =关、CLK_EN = 0FF、DR = 1000SPS */
    0x10、      /* WCT_CHOP = var,TEST = INT,TEST_AMP =-(VREFP - VREFN)/2400V,TEST_FREQ = Fclk/2^21 */
    0xCC、     /* REF_Buff = ON、VREFP = 2.4V、RLD_MEAS = OFF、RLDREF =(AVDD-AVSS)/2、RLD_Buff = ON、RLD_LOFF_SENSE = OFF */
    0x03、      /* COMP_TH = 95%、电流源导联脱落检测、I = 6nA、直流导联脱落检测*
    0x00、      /* CH1 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH2 = ON、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH3 = ON、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH4 = on、gain = 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH5 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH6 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH7 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* CH8 =打开、增益= 6、正常电极输入*/
    0x00、      /* RLD -像使用电压折页机一样使用它*/
    0x00、      /**//
    0xFF、      对于所有通道、/* LOFF_SENSP = ON *
    0x06、     /* LOFF_SENSN -只有 RA */   **您是否尝试将 RA 上的电流从2个 I_LOFF 降低到1 个 I_LOFF? 更改为0x02。 **
    0x00、     对于所有通道、/* LOFF_FLIP =关闭*
    0x00、     /**//
    0x00、     /**//
    0x00、     /*所有 GPIO -零输出*/
    0x00、     /*步速跑*/
    0x20、     /*呼吸关闭*/
    0x02、     /* SINGLE_SHOT =关闭、WCT_TO_RLD =关闭、LEAD_OFF_COMP =打开*/
    0x0B、     /* WCTA = RA */
    0xD4     /* WCTB = LA、WCTC = LL*/
    };

    6月5日设置:

    此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ryan,

     您能否帮助使用以下设置来查看差异?非常感谢~

    作为我的 E2E 帖子链接:

    定义  ADC_CH_SET_ON_1      (0x0010u)

    #define  ADC_CH_SET_ON_6      (0x0000u)

    #define  ADC_CH_SET_ON_12      (0x0060u)

    #define  ADC_CH_SET_OFF      (0x0090u)

    #define  ADC_CH_SET_MUX_OUT      (0x0000u)

    #define  ADC_CH_SET_MUX_TSIG      (0x0005u)

    #define  ADC_CH_SET_MUX_TMP      (0x0004u)

    //#define  ADC_CH_SET          ADC_CH_SET_ON_6 | ADC_CH_SET_MUX_TSIG

    #define  ADC_CH_SET          ADC_CH_SET_ON_6

    /* ADC 1参数数据*/

    #define  ADC1_TYPE             ADS1298

    #define  ADC1_SERPORT            (1)

    #define  ADC1_ADS1298DEVID         (0x0000u)

    //#define  ADC1_ADS1298CONFIG1        (0x0085u)/*采样率1000 *

    #define  ADC1_ADS1298CONFIG1        (0x0084u)/*采样率2000 *

    //#define  ADC1_ADS1298CONFIG1        (0x0083u)/*采样率4000 */

    //#define  ADC1_ADS1298CONFIG2        (0x0000u)/*内部测试*/

    #define  ADC1_ADS1298CONFIG2        (0x0015u)/*内部测试*/

    //#define  ADC1_ADS1298CONFIG3        (0x00DCu)

    #define  ADC1_ADS1298CONFIG3        (0x00EFu)

    //#define  ADC1_ADS1298LOFF          (0x0003u)

    #define  ADC1_ADS1298LOFF          (0x00E3u)

    #define  ADC1_ADS1298CH1SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH2SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH3SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH4SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH5SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH6SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH7SET         ADC_CH_SET

    #define  ADC1_ADS1298CH8SET         ADC_CH_SET

    //#define  ADC1_ADS1298RLDSENSP        (0x0000u)

    //#define  ADC1_ADS1298RLDSENSN        (0x0000u)

    //#define  ADC1_ADS1298RLDSENSP        (0x0030u)

    //#define  ADC1_ADS1298RLDSENSN        (0x0020u)

    #define  ADC1_ADS1298RLDSENSP        (0x00FFu)

    #define  ADC1_ADS1298RLDSENSN        (0x00FFu)

    //#define  ADC1_ADS1298LOFFSENSP       (0x00FFu)

    //#define  ADC1_ADS1298LOFFSENSN       (0x0002u)

    #define  ADC1_ADS1298LOFFSENSP       (0x00FFu)

    #define  ADC1_ADS1298LOFFSENSN       (0x0001u)

    #define  ADC1_ADS1298LOFFFLIP        (0x0000u)

    #define  ADC1_ADS1298LOFFSTATP       (0x000FFu)

    #define  ADC1_ADS1298LOFFSTATN       (0x0003u)

    #define  ADC1_ADS1298GPIO          (0x0001u)

    #define  ADC1_ADS1298PACE          (0x0001u)

    #define  ADC1_ADS1298RESP          (0x0000u)

    #define  ADC1_ADS1298CONFIG4        (0x0002u)

    #define  ADC1_ADS1298WCT1          (0x0009u)

    #define  ADC1_ADS1298WCT2          (0x00C2u)

    //#define  ADC1_ADS1298WCT1          (0x000Au)

    //#define  ADC1_ADS1298WCT2          (0x00E3u)

    另一个问题:

    如 ADS1298的数据表中所述、电流源导联脱落检测中的直流输入阻抗可以是500MΩ Ω、我想知道如何在 您的测试中获得500MΩ Ω?