您好！
当我启用测试图形并启用数字旁路时、我可以在 FPGA 调试环境中看到测试图形。
但禁用旁路。 不再有测试模式、仅保留原始 ADC 数据(相同的情况是关闭测试模式、开启数字旁路)。
是否可以在禁用数字旁路的情况下使用测试模式？
根据数据表图8-48和 ADC35XX EVM GUI 图形、这应该是可能的、但我看到了不同的行为。
非常感谢您提供任何提示。
尊敬的 Drew：
感谢您的观看。
CLKP 为20 MHz
DCLKP 为292、5 MHz
FS 为65 MHz
我要按照以下步骤使用 GUI。
-在"首页"选项卡中
->按"配置 CDC"按钮
-在"Analog Inputs and Clk"选项卡中
-->两个通道的测试模式均更改为"自定义"
-->自定义模式更改为13
-在"数字功能"选项卡中
"数字旁路"默认启用
完成这一步后、我可以在 FPGA 中看到自定义图形13、
现在、更改"Bypass Digital (旁路数字)"开关后、我希望仍然能看到测试模式。 但我会看到原始 ADC 数据。
尊敬的 Robert：
测试模式禁用数字旁路后、应与 DDC 配合使用。 如果未启用 DDC 并配置适当的设置、将不会输出测试模式。
禁用数字旁路时、信号将通过 NCO 和抽取滤波器所在的 DDC 路由。 因此、要穿过该块、必须配置抽取滤波器。
我希望下图清楚地说明了这一点。
再说明一点、即使测试图形发生器在 DDC 块之后、它在禁用数字旁路的情况下不起作用的原因是它需要一个"时钟"才能运行。 在数字旁路模式下、这是 ADC 采样时钟。 禁用数字旁路后不再是这种情况、DDC 会输出一个用于下行处理的时钟(这是抽取因子的函数)。
此致、
德鲁
尊敬的 Drew：
非常感谢您的努力。
我不明白 TestPatternGenerator 为什么是独立于 DDC 的、因为在图中、这些组件是独立的。 蓝色和红色数据路径路由到连接到 TestPatternGenerator 的多路复用器。
这个多路复用器是否真正像您所描述的一样起作用？
那么、如果禁用数字旁路、禁用 DDC 和启用 TestPattern、哪个路由是正在运行的数据槽？ 我可以在下图中看到这条路由。
此致、
罗伯特
