以下图像描述了一种情况：在将0x5383写入 TLA2024 (0x48)的配置寄存器(0x01)后、立即后续读取该寄存器后产生0xD3FF 值。 "Read [0x48]+ ACK (读取[0x48]+ ACK)"后的波形似乎存在问题。 波形该部分的放大视图显示在第二幅图像中。 这种现象尤其在低温(在-20°C 周围)下会被观察到、并且大约每隔几百次尝试就会发生一次。 什么被认为是可能的原因？
附加的图像是观察到现象时的波形捕获图、以数字(上部两个通道)和模拟10ms/s (下部两个通道)格式获取。
标记为"0xFF +缺失的 ACK/NAK"的波形部分似乎表示、与之前的情况类似、TLA2024在超过第一个位后无法正常运行。 虽然我们的工具将此部分解码为"0xFF +缺失的 ACK/NAK"、但实际的器件驱动程序会将其读取为0xD3FF 而不检测任何错误。 但应注意的是、该寄存器的低8位之前写入的是0x83、而不是0xFF。
我们已经确认了一个类似的现象发生在 SoC 的 I2C 硬件 IP 和 i2c-gpio (bitbang)包括在 Linux 内核中。
我检查了以模拟格式获得的波形符合 TLA2024的 I2C 时序要求、似乎没有违反任何规格。
第二张图片是"0xFF +缺失 ACK/NAK"部分的放大视图(SCL=77kHz、pull-up=3.3V)。 在这部分中、I2C 时序要求似乎不存在任何问题。
是否存在任何其他可能导致此问题的问题？
我在前面提到过、如果您也可以捕获到、我还想查看 VDD 在误差期间的电压电平。
附件是在出现问题时拍摄的放大图像。 您应该能够验证电压和时间戳。 如果您发现有任何问题、请告诉我。
>我还想查看有关器件引脚的原理图。 I2C 总线上是否有任何其他器件？
>您能否对设备进行 A-B-A 交换以确定这是否是此设备的一个特别问题？
您还提到了在较低温度下问题似乎会变得更糟，您还可以在-20摄氏度以下测试器件以查看性能是否继续随着温度的降低而下降。
当前问题仅在一个单元中出现、但我无法确定、因为没有太多可用于测试的单元。 此外、装置的最低工作温度为-20°C、因此无法进一步降低。 我们已决定在未来几周执行 A-B-A 交换、我想 在此过程中确认这些细节。
