[参考译文] DAC1220：DAC1220保留的地址位置

谢谢。  我希望可能有用于生产测试的挂钩。  这不是我希望在数据表中找到的内容、也不是 典型设计人员所需要的东西。   我计划进行一些测试、以确定向这些位置写入随机数据是否产生任何影响。    

我注意到了表13、位11状态为只读。 始终为"0"。  表12命令寄存器显示位11为1、而不是0。  读取两个不同的器件、都会返回1。  我建议更正数据表。

正如你所建议的那样、被保留的地址单元看起来不会对 DAC 运行产生任何影响。  对于命令寄存器的保留位、似乎也是如此。

我怀疑该器件正在进行某种类型的内部归零。 某些器件的行为似乎略有不同、这会给我们带来问题。   如果您在 TI 有人了解该器件的工作原理、请让他们与我联系。  

尊敬的 Mark：  

您能否详细阐述一下各个部分之间的不同行为是什么意思以及它造成您的问题？

此致！

K·琼斯  

不管该部件在内部进行什么操作、它都会在其双模输出中引起小干扰。  级别取决于器件。

尊敬的 Mark：  

如果您可以分享您的原理图以及示波器上显示的2个或3个您遇到问题的部件的行为屏幕截图、以便我们更详细地进行研究、这可能会有所帮助。  

此致！

K·琼斯

抱歉、由于它是一个公共论坛、因此您根本不需要原理图。  但是、请随意与了解器件广告内部工作情况的人联系、我们当然可以讨论它。  示波器不具有所需的分辨率或本底噪声。  我可以告诉您、这个问题非常糟糕、足以导致我们以大约1%的比例拒绝这些器件。   

尊敬的 Mark：

我假设您在之前的帖子中担忧某些器件的失调电压误差比其他器件更高？ 是否正在发出校准命令？ 在校准状态期间、您如何设置 CALPIN 功能？

您看到的偏移值是多少？

谢谢。

保罗

它不是失调电压、而是双模输出(2态)。  手动更改增益和偏移寄存器似乎对电平没有影响。  也不会更改滤波器。  目前、我没有运行任何校准或与器件进行任何通信。  在运行期间、所有数字引脚都处于固定状态。  问题是器件内部的问题及其工作原理。  猜测这是正常的，可能是某种自动归零。  时间刻度为几秒到几分钟。  在振幅方面、我们的有效电压低于1uV。

查看九种不同的 DAC、持续时间为7分钟。   对数据进行标准化、以帮助查看双模情况。  电弧是由漂移导致的。   请注意一个 DAC 是如何存在这种双模条件的、而其他 DAC 看起来像我预期的随机条件。  然而、我怀疑所有 DAC 都表现出这种行为、但它低于噪声。   这种双模漂移足以在我们使用该器件的方式上造成问题。  我怀疑在大多数应用中它不会造成问题。   

我应该说明的是、两个双模状态之间的差异低于50nV。  同样、这个差异会因器件而异。  绝大多数国家没有出现这种情况，或者至少低到不会给我们造成问题。  对于几千个器件、我们可以看到大约1%的故障率。  

因此、该器件是一个电流段 Δ-Σ DAC。  这意味着我们可以使用连续开关产生更高的分辨率、从而允许误差平均。  由于某些细分市场可能比其他细分市场的误差更大、您可能会看到一些器件的误差超过平均值。  这意味着在某些器件上、您可能会看到直流误差会随着段的打开/关闭而随时间变化。   

您能否确认外部振荡器是否工作并校正？ 您看到2.5MHz 了吗？ 比预期慢的时钟将显示段切换。

我们将使用2.45MHz 晶体作为时钟。   查看不良器件上的 XOUT (PIN2)、看起来是正确的。   在查看评估板的手册时、他们使用了2.4576MHz 晶体。  

另请注意、我已经尝试在两个电路板上交换 DAC、其中一个电路板有问题、看是否有其他东西可能会使双模条件问题复杂化。 问题跟踪 DAC。  在我最初的帖子中、我原本想可能有一种方法可以命令 DAC 锁定其设置。  失调电压很小并不重要、但它不能像现在那样在两种状态之间切换。

标记、

虽然 DAC1220可能具有一定程度的斩波稳定、用于稳定的时钟将比您看到的数秒小得多。 通常、您会希望在大多数应用中的数百 kHz 范围内进行斩波。

此外、该器件没有任何测试模式或额外的未记录功能。 有一些钩子用于查看一些稳定时间、但实际上这个器件相当简单、并且我们没有为此特定器件添加太多来进行测试或评估。

由于双模输出的几秒到几分钟的时间标度、我猜您会看到爆音(或突发)噪声。 并不似乎出现在所有器件上、并且噪声比 DAC LSB 小得多。 如果您在5V 范围内操作此器件、则50mV 相当于大约24位分辨率(其中该 DAC 是20位 DAC)。 这一级别的输出噪声远低于 DAC 的分辨率、我想没有人会看到它。 如果您已经在电路板上交换了一些器件、那么我猜测这实际上是 DAC1220、而不是导致此问题的输出缓冲器或输出滤波。

为了测试这是否真的是爆音噪声、您可以将电路板放在烤箱中、看看转换是否变得更加频繁。 升温器件会增大噪声频率、而降温会降低噪声频率。

约瑟夫·吴

谢谢。  从我之前发表的关于我自己对保留区域进行测试的文章中、我倾向于同意没有可使用的挂钩可以帮助缓解此问题。   

正如我提到过的、我采用了一个良好和不良的电路板、交换了 DAC、因此问题将跟踪 DAC。 在解决该问题以确定来源之前、我将缓冲区更改为相同类型、然后更改为不同类型、没有任何影响。  我相信 DAC 有问题。  

我在 sub uV、而不是 mV 下工作。  正如您可以想象的那样、温度非常重要、即使是很小的气流也会导致重大问题。   它很可能是 RTN。  问题是、即使我们确定了问题的来源、我也不知道我们可以如何缓解问题。   我附上了一张照片，显示了将系统暴露在办公室气流中所产生的影响。  请注意它是如何屏蔽双模问题的。

要在室中运行它、 我将电子器件进行双重绝缘、使其保持足够稳定以查看双模情况。  我在室温下启动、然后允许电路板达到0°C。接下来、电路板温度变为70°C。 c. 该问题看起来与 RTN 类似并看起来会随温度而变化。  

显示了典型的良好 DAC、其温度升高到70摄氏度、并且设置与之前的不良 DAC (蓝色)相同(橙色)。  如果您还想看到其他内容、请告诉我。  

我让典型的 DAC 夜间在高温下运行(蓝色)。  请注意它在整个持续时间内如何保持稳定。