大家好!
我的一个客户正在为其下一个产品评估 AFE5401-Q1。
目前、他们有以下问题。
请你给我答复吗?
问:
当 SEN 为 L 电平时、SDOUT 端子是否为高阻抗? 或者 SDOUT 是否保持激活(无高阻抗)?
非常感谢您的答复。
此致、
和也。
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大家好!
我的一个客户正在为其下一个产品评估 AFE5401-Q1。
目前、他们有以下问题。
请你给我答复吗?
问:
当 SEN 为 L 电平时、SDOUT 端子是否为高阻抗? 或者 SDOUT 是否保持激活(无高阻抗)?
非常感谢您的答复。
此致、
和也。
您好、Shabbir、
感谢您发送编修。
它们将其他 SPI 器件输出连接到 AFE5401-Q1 SDOUT、便于使用数据线。
当 SEN 为 L 电平时、他们认为 SDOUT 端子会变为高阻抗。
他们发现 SDOUT 不处于高阻抗模式、因为 SDOUT 电压为1.8V、尽管他们的预期电压为3.3V。
(我想是信号 冲突。)
但他们认为根据你的答复是错误的。
我将告诉他们要将 SDOUT 从运行状态更改为高阻抗状态时、将"0"设置为寄存器0 (00h)位1 (REG_READ_EN 位)。
再次感谢大家、此致、
和也。
您好、Shabbir、
非常感谢您的支持、
客户 按如下所示控制寄存器0 (00h)位1 (REG_READ_EN 位)。
但无法将 SDOUT 状态更改为高阻抗。
您能告诉我哪一点错了吗?
[客户测试程序]
从其他器件输出中删除了 SDOUT 输出线路。
在 SDOUT 和 GND 之间添加了10k Ω(=下拉电阻器)。
写入数据、将0x0000写入地址0x00 (设置了写入模式)
4.写入数据、 0x8101到地址0x1D (数据写入)。
5.将数据写入0x0002到地址0x00 (设置了读取模式)
6. 从地址0x1D 读取数据(设置读取模式)
7.从地址0x1D -> 0x8101读取数据。
此时、SDOUT=H 状态。
8.写数据,0x0000到地址0x00 (写模式被设置)
此时仍为 SDOUT=H 状态。
客户认为、如果 SDOUT 变为高阻抗、SDOUT 电平必须 通过下拉电阻变为"L"。
您能检查一下程序是否正确吗?您能给我评论一下吗?
现在客户认为 SDOUT 没有高阻抗模式。 客户是否认为正确?
再次感谢大家、此致、
和也。