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[参考译文] ADS1278-ADC:很少的 EP 通道数据在8个通道中始终为零

Guru**** 663810 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1278
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1307478/ads1278-ep-few-adc-channels-data-is-always-zero-out-of-8-chanels

器件型号:EP
主题中讨论的其他器件: ADS1278Strike

尊敬的 TI 团队:

自1.5年以来、我们 EP 一直在将 ADS1278-ADS1115用于定制项目。

客户使用产品已有1年、所有 ADC 工作正常。 但是上周我们收到了几个渠道不工作的投诉。

我们已经进行了详细检查、发现在一些 ADC 中、很少有通道无法正常工作、在这些通道中、数据始终为零、但其余通道正常工作。

ADC1 -通道2

ADC2 -通道1、2

ADC3 -通道1、2、7

其他一些 ADC 工作正常。

我们使用的是 TDM-Fixed 模式、因此我们怀疑这些通道是否已关闭。 已检查所有通道的 PWDN 引脚是否始终上拉至3.3V。 此外、我们已经检查了不同的固件版本、并且行为是相同的。

我们感到困惑、因为相同的器件使用相同的固件几乎工作1年、所以我们必须开始调查故障。

请帮助我们解决此问题。   

谢谢。此致、

维努戈帕尔 B

硬件设计工程师

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    您好!

    请允许我们留出一些时间来回应、因为我们的许多工程师都是来此度假的。 谢谢你。  

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    您好 Venugopal、

    您说故障通道始终显示数据为零。  这是在 DOUT 引脚上测得的 ADC 输出代码吗?  或者数据 零点是否为固件提供的计算值?  如果这是计算值、例如更正增益、偏移、额外滤波、 那么、如果 ADC 输入约为零、您可能会获得0数据。  但是、如果数据是直接在 ADS1278的 DOUT 引脚上测量的原始 ADC 代码、那么您应该会看到由于 ADC 偏移和噪声导致的小的非零值。

    1. 请确认数据零点是在 DOUT 引脚上测得的 ADC 代码。

    2. 请确认相关通道的差分输入电压为非零值,以排除输入信号链中的任何问题。

    3. 请提供捕捉至少2个数据样本输出的/DRDY、SCLK 和 DOUT1引脚的逻辑或示波器捕获。  我可以检查是否存在任何可能导致问题的边际计时。

    输入通道还可能发生过压瞬变、从而损坏相关通道。  如果您能提供 ADC 输入电路的原理图、我将查看是否有任何可能的问题。

    此致、
    N·基思
    精密 ADC 应用

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    尊敬的 Keith:

    感谢您的答复。

    1. 是的、对于这些失效通道、ADC 输出代码的 DOUT 引脚始终为零。
    2. 我们的 ADC 输入信号链:衰减器、模拟开关(用于环回测试)、缓冲器、LPF 和差分驱动器、附加了原理图以供参考。 我的所有通道都连接到提供0-10V 直流输出的传感器
    3. 后来、我们调试并更换了新的 ADC、工作正常、因此我们发送回了器件。 因此、无法进行逻辑/示波器捕获。

    我们想知道在某些 ADC 中、特定通道损坏的原因是什么? 但大多数 ADC 都能正常工作。

    请提供解决此问题的解决方案。

    谢谢。此致、

    维努戈帕尔 B

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    请在下面找到清除图像的链接  

    https://drive.google.com/file/d/1AcG4YoQmi1oHYctApSuNJL-3DFw9PmFH/view?usp=drive_link

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    您好  Venugopal、

    输入电路看起来正确、并且不应引起任何过压问题。

    我认为这可能是组装问题。  您能否在其中一个发生故障的 ADS1278器件顶部提供 LTC 代码?  如果图片能够清晰地显示 IC 封装顶部的所有标记、则可以正常工作。

    此外、这些器件是否已正确存储?  它们具有湿敏 等级:3-260C-168 HR

    MSL 等级和回流焊曲线(修订版 A)

    此致、
    基思

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    尊敬的 Keith:  

    感谢您提供宝贵的 反馈、请查找故障器件参考的随附图。

    我们删除了两个器件、并且这两个器件的 LTC 代码是相同的、LTC 代码是97C12RTG4。

    https://drive.google.com/file/d/1AcVxYnJEJ7kuvRIVzIgTsY9nkY0qhulC/view?usp=sharing

    请回顾并告知我们任何更新。

    我将与商店确认器件是否已正确存储、我们确信在回流焊过程之前已正确烘烤器件。

    谢谢。此致、

    韦努戈帕尔·B·  

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    您好 Venugopal、

    LTC 代码是 ADS1278MPAPTEP 的有效数字。

    您能否提供电路板布局图像或确认 ADS1278接地引脚 AGND 和 DGND 都连接到单个接地平面?  

    如果发生某种类型的过压事件导致 ADS1278上的 AGND 和 DGND 引脚之间的电压差大于+/-0.3V、这也可能导致故障。   

    此致、
    基思

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    尊敬的 Keith:

    请查找接地层的封闭电路板布局图像并标记了器件位置、AGND 和 DGND 被各层隔开并与 SMD 铁氧体磁珠相连。

    https://drive.google.com/file/d/1AdqFgjVYaXd_r64DVZXycOto9M5WyE5E/view?usp=drive_link

    我们测量了两层之间的电压差、结果甚至都没有超过+/-2mV。

    我们有8个这样的 A 板、我们已经看到这种行为在2个板只有其余的板工作正常、没有任何问题。 那些失败的主板也能正常工作了将近1年。  

    在故障电路板1中:两个器件都具有故障通道、器件1–CH1和2、器件2–CH1、CH2和 CH7。

    在发生故障的电路板2中:第二个 ADC 器件(仅限 CH2)发生故障、并且在第一个 ADC 器件中、所有通道都正常工作。 如果 ADC 由于电压事件而发生故障、为什么第一个器件不会影响同样的影响?

    此外 ,我们还在 另一个项目中使用相同的设备 ,具有分割的接地层连接 SMD 铁氧体磁珠(请参考下图),这些设备工作没有任何问题。

    https://drive.google.com/file/d/1AfBNacoOP10psYir_Qi 1ioVfhb5g-NLP/查看?usp=共享

    请回顾并提供反馈。

    谢谢。此致、

    韦努戈帕尔·B·

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    尊敬的 Venugopal B:

    我们需要额外的时间来回答此问题、请预计在本周结束前得到答复。

    感谢您的耐心等待

    -Bryan

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    尊敬的 Venugopal B

    我们本周无法回答此问题、我们希望在下周一星期三之前给您回复、因为星期一是假日

    -Bryan

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    您好 Venugopal、

    由于2个接地平面之一上的快速上升电压阶跃、器件损坏的可能性很高、这会导致快速上升电流脉冲、例如 ESD 冲击或某种其他类型的电压瞬态。  层之间铁氧体的直流电阻较低、测量正常条件下的电压差时、电压差可能非常低。  但是、例如、当接地平面之间有高频电流流动时、由于 ESD 冲击、铁氧体磁珠的电感和电路板布局连接会导致更高的阻抗。  电流瞬态越快、两个平面之间的电压差就越高。  Vdiff = L*di/dt

    我至少建议移除铁氧体并替换为0 Ω 电阻、但仍具有电路板布局的寄生电感、包括电阻器的焊盘/通孔、这种情况并不理想。

    EP 是一款高温器件。  如果 ADS1278的散热焊盘和电路板接地层之间没有良好的热接触、则还可能超过结温、尤其是当环境温度接近器件的最大额定值时。

    很抱歉、目前我没有任何其他建议。

    此致、
    基思

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    尊敬的 Keith:

    感谢您的宝贵答复。

    我们已注意到反馈、并将在我们的功能项目中遵循相同的反馈。 我们将使用0 Ω 电阻器替换铁氧体。

    谢谢。此致、

    维努戈帕尔 B