Other Parts Discussed in Thread: ADC121S021
大家好、
我认为该 IC 会在 CS 变为低电平并在13CLK (保持时间)执行转换时保持不变、但最长保持时间是多少?
当我将 CS 设置为低电平后30秒发送时钟(16CLK)并查看数据时、该值与预期值有很大的偏差。
此致。
须田太一郎
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Other Parts Discussed in Thread: ADC121S021
大家好、
我认为该 IC 会在 CS 变为低电平并在13CLK (保持时间)执行转换时保持不变、但最长保持时间是多少?
当我将 CS 设置为低电平后30秒发送时钟(16CLK)并查看数据时、该值与预期值有很大的偏差。
此致。
须田太一郎
尊敬的 Samiha:
>在/CS 被拉至低电平后、此器件的保持时间为13个 SCLK 周期。 这是典型时间、实际上没有最大值或最小值。
我想知道的是,你到底是谁?
我正在使用 ICE 来操作微控制器的寄存器并检查电路板。 将 CS 设置为 L 后、在任一时序手动发送 SCLK。 (SCLK 为1MHz、CS 保持为 L)
将 CS 设置为 L 后、需要几秒钟时间才能到达 SCLK、但某些 IC 会存在较大的变化、而其他 IC 则变化极小。
但是、在将 CS 设置为 L 并检查转换结果后的30秒内发送 SCLK、所有 IC 都会产生不良结果。
数据表具有最小 Tsu (在可输入 SCLK 之前、CS 设置为 L)、但不存在最大规格。
(我认为如果我知道 Tsu 的最大值、我可以找到保持时间的最小值以及时钟的最小值。)
我认为、如果保持和转换之间的时间较长、泄漏电流导致的误差将增加。
是否有建议的保持时间值(从设置 CS 到 L 再到13clk)?
此致
须田市
尊敬的 Suda-San:
感谢您的讲解。 没错、在应用 SCLK 之前将/CS 保持低电平过长时间会导致采样电容器由于泄漏电流而放电、从而导致不正确的转换结果。 在应用 SCLK 之前、几秒钟是将/CS 保持为低电平的相当长的持续时间。 /CS 低电平和 SCLK 之间的最大时间可以通过查看 TCL 和缝线来估算。 因此、当使用 SCLK=SCLK 时1MHz、它大约为400ns。 您可能能够等待长达1-2个 SCLK 周期、但我建议保持在400ns 内、以避免违反 TCL 和蚀刻。

希望这对您有所帮助。
此致!
萨米哈
尊敬的 Samiha:
感谢您的确认。
(ADCxx1Sxx1系列数据表的所有相关部分均源自25kHz、因此我认为有一些数据经过了测试、即使器件规格比数据表中列出的规格更差也是如此。)
由于我们使用隔离式传输、因此我想提供尽可能多的余地。
但是、贵公司的隔离式传输 IC (ISO6472)性能良好、延迟很少、所以似乎没有问题。
到目前为止、我没有更多问题。
我期待修改数据表的版本。
感谢您的配合。
此致!
须田市