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[参考译文] TSC2017:IEC 标准61000-4-2的测试方法

Guru**** 2475240 points
Other Parts Discussed in Thread: TSC2017

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1303654/tsc2017-test-method-of-iec-standard-61000-4-2

器件型号:TSC2017
主题中讨论的其他器件: Strike

大家好!

我想知道基于 IEC 61000-4-2的测试方法。

我的客户对成品进行了±8kV 空气放电 ESD 测试。

因此、触摸屏出现冻结。

我想问您有关 TI 测试的详细信息、因为我想将 ESD 测试与 TI 测试方法进行比较。

您能告诉我有关电路配置和测试细节的任何信息吗?

此致。

Ryusuke

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    通常、这是使用 ESD 枪完成的、并且枪要与针接触或与针保持较小的距离。 TSC2017通过了以下测试

    ±25kV 空气间隙放电  

    ±15kV 接触放电

    https://youtu.be/AcP8N8x2wFQ?si=l-gHrjvd8dCaDntc

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    尊敬的 Sanjay:

    您是否直接在器件上执行 ESD 测试?

    您是说没有 ESD 测试电路等专用电路吗?

    此致、

    Ryusuke

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    所进行的 ESD 测试旨在验证器件在遭受 ESD 冲击时不会受到物理损坏。 这些是在裸芯片上完成的。

    一个功能问题,如你的客户看到的,必须由外部保护处理.

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    尊敬的 Sanjay:

    确认在裸芯片中执行此 ESD 测试是否正确?

    此致、

    Ryusuke

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    这些测试主要是为了确保裸芯片能够承受处理所产生的应力。 I

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    尊敬的 Sanjay:

    关于 IEC61000-4-2

    电压是否不会造成物理损坏?

    或者器件的工作电压是否正常?

    在下面的主题中、Lucas 告诉我、该器件在电压下正常运行。

    (+) TSC2017:IEC61000-4-2的结果。 -数据转换器论坛-数据转换器- TI E2E 支持论坛

    看起来已经过测试、可以防止物理损坏。

    哪一项是正确的?

    如果您能告诉我、我将不胜感激。

    此致、

    Ryusuke

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    我会很快回复

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    尊敬的 Sanjay:

    上述问题的进展如何?

    此致、

    Ryusuke

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    我在内部重新检查这一点。 我明天就会回复。

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    IEC61000-4-2是一项系统级测试。 它的压力比在元件级进行的测试要大得多。 因此、需要使用外部 ESD 组件

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    尊敬的 Sanjay:

    很抱歉我不明白。

    我想你再告诉我这件事。

    关于"系统级别"一词

    它是否在产品中实施(内置和完成)?

    IEC 指定的电压值为...

    电压是否不会损坏器件?

    电压是否会导致器件正常工作?

     

    此致、

    Ryusuke

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    IEC 标准是一项系统级测试、该测试复制带电人员放电到系统终端用户环境中的系统。 系统级测试的目的是确保成品能够正常运行

    据我了解、IEC 61000-4-2标准规定接触放电的电压为8KV、空气放电的电压为15KV (小距离放电)。

    通常会在芯片级检查器件以了解 人体放电模型(HBM)、机器放电模型(MM)和带电器件模型(CDM)等标准。

     这些等级通常低于上述 IEC61000等级。

    但 TSC2017具有增强的 ESD 保护功能、它提到25kV 接触放电和8KV 空气放电。 这些水平似乎足以通过 系统级测试。 我不是 ESD 测试专家、但似乎该器件应该能够承受 8kv 空气放电测试、而无需额外的组件

    在这种背景下、我想问客户说屏幕冻结意味着什么? 我们可以说 TSC2017已停止工作、I2C 已停止提供数据吗?

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    尊敬的 Sanjey:

    我将向您发送我们在其他主题中讨论过的 TSC2017电路。

    (+) TSC2017:是否为异常情况? -数据转换器论坛-数据转换器- TI E2E 支持论坛

    关于 客户所说的"屏幕冻结"问题,

    这意味着在 ±8kV 空气放电测试后会出现以下行为。

    1) 1)触摸屏幕时、PENIRQ 引脚不输出低电平。

    2)发生"屏幕冻结"情况时,TSC2017的硬件重置功能也不起作用。

    3)功率循环后,它回到正常操作。

    即使移除了触摸面板输入的二极管和电容器、也没有变化。

    但是、在拆下触摸面板的 FFC 并对触摸面板应用空气放电后、

    在通电状态下连接 FFC。 触摸面板正常工作。

     在电力线上放置了一个去耦电容器(JMK325BJ226MY MANUFACTURE:TAIYO YUDEN)、但结果未更改。

    去耦电容器的直流偏置特性也很低、因此容量似乎得到保护。

    您能给我一些建议吗?

     触摸面板输入的端点 IC (DA227制造:Rohm)是否合适?

    如果您能给我一些反馈、我将不胜感激。

    此致、

    Ryusuke

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    尊敬的 Sanjay:

    进展如何?

    我仍期待您的回复。

    如果您能提供您的答复、我将不胜感激。

    此致、

    Ryusuke

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    尊敬的 Ryusuke-San:

    出于某种原因、我错过了在您身边看这个 e2e。 我正在尝试确定发生了什么。 很抱歉。

    由于无法正确缩放、我无法正确看到原理图。 向我发送一份 pdf 图。

    客户是否将高压脉冲施加到连接到铁氧体的连接器上? 如果是这样、我建议将铁氧体替换为串联电阻作为测试。 我无法访问数据表、但首先可以尝试47欧姆电阻器

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    尊敬的 Sanjay:

    感谢您的答复。

    不从连接器应用±8kV 空气放电。

    它应用于成品的触摸屏。

    我将通过私人消息发送 PDF。

    很抱歉、但它是用日语写的。

    如果你不明白,请告诉我。

    此致、

    Ryusuke

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    我建议在非常靠近 IC 引脚和 IC 接地的位置将电容器接地。 然后我会要求进行测试、如果问题得到解决、则逐一移除电容器、直到获得所需的最低电容器。

    例如:3个引脚上的单个1U 电容器 RESET、A0、AUX

               SDA 和 SCL 引脚上有100pF 电容器。

               1U on PENIRQ。

    对于测试、应绕过功率 MOSFET。 3.3V 应直接连接至 VDD 引脚。 这是为了防止在测试期间开关打开和关闭的可能性。