[参考译文] AFE5816：AFE5816 DCLK 不起作用。 (FCLK 工作正常)

您好！

1)您是在客户 EVM 还是在电路板上检查？

2)您是否遵循设备初始化方法? (数据表中为10.4)

感谢您的答复

1)在我的板上。

2) 2)是的、我遵循器件初始化

这是我的寄存器设置序列、

寄存器1 - 0014

寄存器41 - 8000

寄存器42 - 8000

寄存器41 - 0000

寄存器42 - 0000

寄存器4 - 0010

寄存器2 - 0380  

我遵循这个顺序。 我的寄存器设置有什么问题吗？

此外、在测试模式中、当反串行化时、斜坡在数据中是显示为斜坡形状、还是 LVDS 输出以斜坡形式出现？

我的 LVDS 输出类似于下面的图像(由 ILA 提供)。 我认为 ILA 运行时钟的高不足以正确捕捉 dclk。 但 LVDS 输出对我来说有点奇怪。

最后一个问题是 "是否可以仅使用 AFE5816 EVM 在没有 TSW EVM 的情况下验证 LVDS 输出？"

再次感谢您的答复  

这些寄存器编号是十六进制的。 是这样吗? 寄存器0x41和0x42是您需要进行初始化的位置。

当器件处于斜坡输出模式时、ADC 数据采用斜坡格式。

您需要捕获以验证 LVDS 输出。 它可以是 TSW EVM 或您的自定义解决方案。 您只需在示波器中查看、即可验证常量数据模式。 如果您有 一个可以解码 LVDS 数据的高端示波器,您也可以使用它来验证。

感谢您的快速响应  

是、每个寄存器编号和值都是十六进制的。

我的寄存器值有什么问题吗？

还有一个问题需要问。

如果没有上面提到的寄存器设置、是否必须将 DTGC 寄存器设置才能看到测试模式？  

像这样的 DTGC 寄存器  

0xB5 0x00C0
0xB6 0x8820

感谢您的积极响应  

此致

抱歉、我再问一个问题。 使用斜坡测试模式时、是否在16个通道中的每个通道上都出现斜坡模式？ 或者16个通道中是否有一个斜坡输出？

此致、

星宇

无需设置 dtgc 寄存器来查看测试模式

斜坡出现在16个通道中的每个通道上、