我们尝试通过使用代码校正技术来提高 ADC3683的 INL 性能。 在我们的测量中、我们通常会看到 INL 幅度大于 ADC3683数据表中报告的典型值、并且测试运行之间 INL 特性的变化至少为+/-4 LSB、尽管此时我们在每个测试运行开始时发出软件复位命令。 我们使用 EVM 平衡-非平衡变压器输入来生成具有高阶 ADC 测试滤波器和正弦激励的 INL 图。 采样时钟由高性能时钟源生成。 这就引发了许多有关 ADC3683行为的问题。
我们测得的一个典型 INL 结果为:

尽管进行了下电上电后、新 INL 测量值与上述测量值之间存在以下差异:

1) 1) 数据表第24页的这张图是使用 EVM 电路(包含会增加一些非线性的平衡-非平衡变压器)生成的还是使用的特殊电路?

2) 2) ADC 上电校准是否预计会在每次启动时产生相同的 INL 特性? (一. e 表示确定性)
"应用硬件复位。 在硬件复位被释放后、缺省寄存器从内部熔丝中载入
并启动内部上电电容器校准。 该校准大约需要200000个时钟
"。 页 G 72
3) 3)软件复位(写入 REG 0x0)是否触发校准例程、或者这仅由硬件复位触发?