[参考译文] DLP NIR 扫描微型

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https://e2e.ti.com/support/dlp-products-group/dlp/f/dlp-products-forum/915905/dlp-nir-scan-nano

您好，

我使用的是具有2.1.0版本软件 GUI 的 DLP NIR 扫描微型器件。我用它来测量固体材料。我在测量方面遇到问题。尽管我不会更改样本固体的位置、但每次我获得不同的频谱(y 轴之间的差异)时、我都会更改该样本固体的位置。这种差异的原因是什么？？由于未更改采样和器件位置、我本来希望出现重叠频谱。这是否与器件校准有关？开始测量之前、是否需要校准器件？？如何使用此 DLP NIR 扫描微型器件获得适合固体的完美重叠频谱。请帮我回答问题。

提前感谢

4 年多前

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 1761415 points

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Dona、

欢迎访问 E2E 论坛、感谢您关注我们的 DLP 技术。

您要测量哪种类型的材料？每个 NIRscan Nano EVM 都经过工厂校准、通常最好保持校准、不要尝试自己重新校准(工厂校准无法恢复)。

您的频谱是什么样的？

此致、

Philippe Dollo

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 1761415 points

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尊敬的 Dona：

您注意到有多少变化(百分比)？请向我们提供扫描数据文件吗？

谢谢、此致、
Hirak。

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