[参考译文] DS560DF810EVM：环回测试失败无法&&#39；t 符合我的预期

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1524634/ds560df810evm-loopback-test-failed-can-t-meet-my-expectation

工具/软件：

环回测试失败。

尊敬的 TI：

目标：用 DS560DF810 制作了一张测试卡、用于实时显示眼图并诊断高速信号质量。

我的问题：环回测试失败。 运行出现错误消息的示例代码。

步骤：

1.我遵循了 DS560DF810_EVM_User_s_Guide 数据表、并尝试测试 IC 提供的眼图功能。

2.安装 Latte 和 lib (DS560LibraryV5p0)、

3.检查插头是否如数据表所述。 电源正常。 CLK 正常。

4.执行 (F5) python 文件。

setup.py ->devinit.py ->1_bringupParams.py ->2_bringupLib.py ->usefulFunctions.py

5.错误消息在 attachnent.e2e.ti.com/.../DS560DF810EVM_5F00_log_5F00_20250609.txt 中遇到所有附加的日志

我当前的示例代码。 不知道如何修复代码以输出眼图或生成 TX 输出信号。

TI 可以发送该 IC 的专家来帮助我解决吗？

该项目是紧急的。