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[参考译文] DP83825I:复位取消置位后的 RX_ER/DV 干扰(自举引脚)

Guru**** 2368590 points
Other Parts Discussed in Thread: DP83825I, DP83825EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1531360/dp83825i-rx_er-dv-glitch-after-reset-deassertion-bootstrap-pin

器件型号:DP83825I
Thread 中讨论的其他器件: DP83825EVM

工具/软件:

TI 团队大家好、

这是我前面关于电源斜升期间 DP83825I REF_CLK 的问题的跟进信息: https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1486923/dp83825i-clock-availability-at-power-ramp/5715771#5715771

我们已根据您的建议更新了我们的设计、现在会在 REF_CLK 稳定后将复位置为有效。 但是、在这种变化之后、我们注意到以下行为:

  • 复位取消置位后、我们会在 RX_ER/DV 引脚上观察到单个尖峰/干扰(请参阅随附的示波器屏幕截图)。
  • RX_ER/DV 用作自举引脚、具有 数据表中建议的 2.49kΩ 下拉电阻。
  • 在出现干扰后、RX_ER 保持低电平、PHY 似乎可以正确引导。
  • RESET 和 REF_CLK 斜升看起来正确、并且尖峰仅显示一次。

在 RESET 上升后出现干扰。

我的问题:

  1. 这是否是 RX_ER 在复位置为无效后显示干扰的已知问题?
  2. 这种干扰是否会影响自举采样、或者只要在复位上升时 RX_ER 处于低电平、它是否安全?

提前感谢您的支持!

此致、
Hamza.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Hamza:  

    我刚刚在 DP83825EVM 上进行了测试、当 RESET 置为无效时、无法观察到 RX_ER 尖峰。  
    但是、只要 RX_ER 在复位的 VIH(即 1.7V)附近处于低电平、这应该是安全的。
    这是否是一个反复出现的问题、是否配置了错误的 Strap 配置?

    此致、
    j

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    尊敬的 J:

    感谢您的答复。

    您提到“只要 RX_ER 在复位的 VIH (1.7V ) 附近处于低电平、这应该是安全的。“
    您能否说明一下 Vih“周围“指的时间窗口? 是 10ns、100ns 还是更长?

    strap 配置采样是作为复位置为无效后的一次性快照完成、还是在更长时间内观察到?

    到目前为止、我们在侧没有看到任何引脚配置错误的迹象、但我们想确保在临界采样窗口中、我们的设置是稳定的。

    此致、
    Hamza.

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    尊敬的 Hamza:

    数据表指定、在 SMI 处于活动状态之前、在上电后设置为 50ms 的 Strap 配置。

    自举采样执行一次。

    此致、

    j

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    尊敬的 J:

    感谢您的答复。

    我再次浏览了数据表、但找不到明确说明在 50ms 后对 Strap 配置进行采样的部分 。

    如果您指的是 T4:“POR 释放时间/上电至 SMI 就绪:MDC 前导码之前的上电稳定后时间以进行寄存器访问“(最长 50ms) -我理解这是允许 SMI/MDC 访问之前的时间、但不一定是进行 strap 采样的点。

    您能告诉我数据表中确认何时进行 strap 配置采样的确切部分吗?

    此致、
    Hamza.

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    尊敬的 Hamza:  

    我指的是 T4。 在允许 SMI/MDC 访问之前、会进行 strap 配置。  
    我还检查了器件上的验证数据、并且 Strap 配置将在 50ms 内发生。  

    此致、
    j