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[参考译文] DP83869EVM:100Base-Tx 振幅

Guru**** 2448320 points
Other Parts Discussed in Thread: DP83822IF

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1541763/dp83869evm-100base-tx-amplitude

器件型号:DP83869EVM
主题中讨论的其他器件:DP83822IFDP83869

工具/软件:

大家好、我有带此 PHY 的牵引演示板、我面临着在每个部分测量不同幅度的问题。 偏差高达 90mV。 由于 ECT 的限值在 100mV 范围内、这是我的预期结果。 存在此类偏差的原因。 我没有找到任何信息 waht 是分布的 outptu 振幅。 我们能获得更多关于它的信息吗?

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    您好:

    此偏差可归因于器件的不同角落、电路板设计、设置变化(例如布线/探测)以及元件容差。 IEEE 本身就是一个非常严格的标准。 虽然容差始终很难确保性能在硬件规格的范围内、但我们也提供了寄存器配置、这可能会有所帮助。  

    在深入进行寄存器配置之前、我想确保设置/探测尽可能优化。 您能否提供您用于测量的供应商以及设置的照片?

    此致、

    Gerome

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    您好:

    这是测试设置图。 我正在使用已经有许多 PHY 进行 ECT 测试大约 8 年、因此我确信偏差是 PHY 造成的。 我最大的同意是根据所采取的 PHY 位置、振幅的偏差很大、而且振幅对称性在边缘。 您能给我提供输出幅度或统计偏差的容差是多少?  什么可以通过 reg 进行调整?

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    您好:

    您似乎使用的是 TDSET3 FW、该 FW 与我们实验室中所做的类似。 我只想确认您使用的图片是针对 10Base-Te 测试完成的、而不是针对您报告的 100Base-Tx 测试完成的?

    为了能够在振幅对称性中占位、您可以使用寄存器 0xA0 减小相应的字段。 请注意、这已进行修整、会因器件而异。 建议读回默认值、仅根据相应的通道/字段进行更改、然后重新测试。 这不仅会降低 VoD 水平(有助于电路板 2)、还会对增加对称性(电路板 1)产生间接影响。

    此致、

    Gerome

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    我确认我正在测量 100BASE-TX 以太网合规性。 寄存器中的设置对我们来说并不合适、因为每个 PHY 的设置必须不同。 我们正处于产品开发的阶段与巨大的量化,所以这是真的不可能的。

    我们需要知道我们可以期待什么。 您能告诉我们输出振幅规格,我们可以期待什么水平? 您是否还对许多样品进行了一些分布测量、在最佳情况下对工作案例样品进行测量?

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    尊敬的 Viktor:

    我个人看到在使用 TDSET3 软件时、运行/运行会发生变化。 请尝试以下操作:

    -将样本大小从 64 增加到 256

    -运行多次(我已经做了 3 次),以获得 PHY 在性能方面的大致范围

    过去曾咨询过 Tektronix、他们的回应是、有时采样不是最佳做法、增加尺寸的代价是完成测试的时间。 由于性能非常差,我想看看这是否是一个错误的获取是你的数据集的根本原因.

    此致、

    Gerome

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    有我的结果。 然后再进行测量

     -在示波器预热前等待 30 分钟

    -进行探头补偿

    我想指出的是、我们发现使用 DP83822IF (DP83822IF :MDI 100BASE-TX 电压容差 是向我的同事提供配电方案时遇到的仿真问题。 但对于 DP83869、我会看到更多的输出偏差

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    尊敬的 Viktor:

    感谢您提供了数据点。 这些违规行为似乎是一致的。 我正在研究为什么会出现这种情况。 您能否提供分配给您的 Siemens 团队的 FAE? 我还要与他们协调努力。

    此致、

    Gerome

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    您好、Gerome、

    很抱歉、我不知道 FAE 是什么、您能给我提供更多信息吗

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    尊敬的 Viktor:

    您的 FAE(现场应用工程师)是 Simon Forstner。 我与他以及我的内部团队联系、讨论这一主题。

    此致、

    Gerome

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    尊敬的 Viktor:

    作为更新、我尝试使用 TekExpress 在我这边测量 2 个 EVM、到目前为止没有发现问题。 我希望扩展我的数据集、但前提是这是我们的发行套件中很好的选择。 但是、我们想 从器件的角度探索测试结果与 EVM 测试之间的相关性。 请查找下一个星期二以进行更新。

    此致、

    Gerome

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    您好:

    作为一项更新、我们仍在研究测试的内容与在 EVM 上的表现形式之间的相关性行为、以进行合规性测试。 我们正在将一些设备送往我们的测试机构进行回收、但由于国际运输、这将需要一些时间。 请期待下一次星期三更新。

    此致、

    Gerome

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    感谢您的反馈。 从下周开始,我将在度假 3 周,所以请花时间:-)

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    尊敬的 Viktor:

    已确认。 有一个美好的假期!

    此致、

    Gerome